This content is Free Access.
Capítulos
- 00:04Introduction
- 00:59Transmission Electron Microscopy (TEM) Alignment for Beam-Rocking
- 02:36Incident Beam Collimation and Pivot Point Setup
- 03:47Electron-Channeling Pattern (ECP) Acquisition
- 04:30Energy-Dispersive X-Ray Analysis
- 05:10Results: Representative ECP and ICP Emission Imaging
- 06:46Conclusion
Vi ger en allmän översikt över kvantitativa mikroanalysmetoder för att uppskatta platsens ockerfienden av föroreningar och deras kemiska tillstånd genom att dra nytta av elektronkanalningsfenomen under incident elektronstråle-gungningsförhållanden, som på ett tillförlitligt sätt extraherar information från minoritetsarter, ljuselement, syre vakanser och andra punkt / linje / planar defekter.
Tags
Quantitative AnalysisAtomic-siteFunctional DopantsPoint DefectsCrystalline MaterialsElectron-channeling-enhanced MicroanalysisEnergy-dispersive X-ray SpectroscopyElectron Energy-loss SpectroscopyLattice DefectsVacanciesInterstitialsGrain BoundariesTransmission Electron MicroscopySTEMOptical Axis AlignmentBeam RockingCaustic SpotCondenser Aperture
