Journal
/
Química
/
Пикометрическое точное отслеживание положения атомов с помощью электронной микроскопии
JoVE Journal
Química
Author Produced
This content is Free Access.
JoVE Journal Química
Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Пикометрическое точное отслеживание положения атомов с помощью электронной микроскопии

DOI:
10.3791/62164-v

•

15:04 min

•

July 03, 2021

•

, , ,
1Department of Materials Science & Engineering,The Pennsylvania State University, 2Center for Nanophase Materials Sciences,Oak Ridge National Laboratory

Capítulos

  • 00:00Introduction
  • 01:23Acquiring High-Quality Annular Dark Field (ADF)/ Annular Bright Field (ABF) STEM Images
  • 09:17Physical Information Extraction
  • 12:22Representative Results
  • 14:41Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

В данной работе представлен рабочий процесс для отслеживания положения атомов в электронной микроскопии с пропускания атомного разрешения. Этот рабочий процесс выполняется с помощью приложения Matlab с открытым исходным кодом (EASY-STEM).

Tags

Keywords: Atomic Position TrackingElectron MicroscopyAberration CorrectionSTEM ImagingAtomic ResolutionLattice StrainDefectsImage DenoisingDrift CorrectionAtom Column QuantificationOverlapping AtomsMATLAB ApplicationEasySTEM

Article

Embed

ADICIONAR À PLAYLIST

Usage Statistics

Vídeos Relacionados

check_url/pt/62164?article_type=v

Улучшение качества Гетеропереход в Cu<sub> 2</sub> O на основе солнечных батарей за счет оптимизации атмосферного давления пространственного атомного слоя Деп<br /> Zn<sub> 1-х</sub> Mg<sub> х</sub> O

Характеризуя переноса электронов через биоплёнки жизни
check_url/pt/62164?article_type=v

Жидкости клеточной просвечивающей электронной микроскопии для отслеживания самостоятельной сборки наночастиц
check_url/pt/62164?article_type=v

Получение трехмерных карт химической энергией фильтруют передачи электронной микроскопии томография
check_url/pt/62164?article_type=v

Анализ минералов, производимые hFOB 1.19 и Saos-2 клетки с помощью просвечивающей электронной микроскопии с энергии энергодисперсионный рентгеновский микроанализ
check_url/pt/62164?article_type=v

С помощью графена жидкости клеток просвечивающей электронной микроскопии для изучения на месте Нанокристаллические травления
check_url/pt/62164?article_type=v

Расплавленной соли синтеза наночастиц сложных оксидов металлов
check_url/pt/62164?article_type=v

Подготовка графена-поддерживаемых Microwell жидких клеток для В Ситу передачи электронной микроскопии
check_url/pt/62164?article_type=v

Фотодепозиция Pd на коллоидные Au Nanorods по поверхности Плазмон Возбуждение
check_url/pt/62164?article_type=v

Атомно-силовая микроскопия в сочетании с инфракрасной спектроскопией в качестве инструмента для исследования химии одиночных бактерий

Read Article