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Preparação de amostras por fresagem de feixe de íons com foco correlativo 3D para tomografia crioeletrônica de alta resolução
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JoVE Journal Biologia
Sample Preparation by 3D-Correlative Focused Ion Beam Milling for High-Resolution Cryo-Electron Tomography

Preparação de amostras por fresagem de feixe de íons com foco correlativo 3D para tomografia crioeletrônica de alta resolução

DOI:
10.3791/62886-v

•

08:20 min

•

October 25, 2021

•

, , , ,
1Max Planck Institute of Biochemistry, 2Max Planck Institute for Biophysics, 3Fondazione Human Technopole

Capítulos

  • 00:04Introduction
  • 00:36Cryo-Fluorescence Light Microscopy (Cryo-FLM) of Plunge‐Frozen Grids with Cells
  • 01:51Focused Ion Beam (FIB) Milling
  • 05:47Correlative Transmission Electron Microscopy (TEM)
  • 07:02Results: Visualizing the Endocytic Protein Deposit in the Cell with Cryo‐ET
  • 07:38Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

Aqui, apresentamos um pipeline para fresagem de feixe de íons com foco correlativo 3D na orientação da preparação de amostras celulares para tomografia crio-eletrônica. A posição 3D das proteínas fluorescentemente marcadas de interesse é primeiramente determinada por microscopia de criofluorescência e, em seguida, direcionada para moagem. O protocolo é adequado para células de mamíferos, leveduras e bactérias.

Tags

Keywords: 3D-correlative FIB MillingCryo-electron TomographyCryo-fluorescence MicroscopyCryo-FIB-SEMSEM Grid OverviewFLM-SEM CorrelationIon Beam ImagingCellular Ultrastructure

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