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Optimierung der Auflösung und Empfindlichkeit der Magnetkraftmikroskopie zur Visualisierung nanoskaliger magnetischer Domänen
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Capítulos
- 00:04Introduction
- 01:00MFM Probe Preparation and Installation
- 02:35Sample Preparation, Installation, and Sample Approach
- 03:27Topography Imaging
- 04:33MFM Imaging
- 06:23Results: MFM Imaging of Magnetic Twin Boundaries in a Single Crystal Ni-Mn-Ga Sample
- 06:58Conclusion
Die Magnetkraftmikroskopie (MFM) verwendet eine vertikal magnetisierte Rasterkraftmikroskopiesonde, um die Probentopographie und die lokale Magnetfeldstärke mit nanoskaliger Auflösung zu messen. Die Optimierung der räumlichen Auflösung und Empfindlichkeit von MFM erfordert ein ausgewogenes Verhältnis zwischen abnehmender Hubhöhe und zunehmender Antriebsamplitude (Oszillation) und profitiert vom Betrieb in einem Handschuhfach mit inerter Atmosphäre.
