/
/
Optimera magnetisk kraftmikroskopiupplösning och känslighet för att visualisera magnetiska domäner i nanoskala
É necessária uma assinatura da JoVE para visualizar este conteúdo. Faça login ou comece sua avaliação gratuita.
Capítulos
- 00:04Introduction
- 01:00MFM Probe Preparation and Installation
- 02:35Sample Preparation, Installation, and Sample Approach
- 03:27Topography Imaging
- 04:33MFM Imaging
- 06:23Results: MFM Imaging of Magnetic Twin Boundaries in a Single Crystal Ni-Mn-Ga Sample
- 06:58Conclusion
Magnetisk kraftmikroskopi (MFM) använder en vertikalt magnetiserad atomkraftmikroskopisond för att mäta provtopografi och lokal magnetfältstyrka med upplösning i nanoskala. Optimering av MFM-rumslig upplösning och känslighet kräver balansering av minskande lyfthöjd mot ökande drivamplitud (oscillation) och fördelar med att arbeta i en handskfack med inert atmosfär.
