É necessária uma assinatura da JoVE para visualizar este conteúdo. Faça login ou comece sua avaliação gratuita.
Capítulos
- 00:04Introduction
- 00:40Apparatus Mounting
- 01:10Sample Preparation
- 02:20Sample Mounting
- 03:17Blade Mounting and Apparatus Alignment
- 04:15Testing
- 04:49Results: The Force‐Time Curve for Polydimethylsiloxane and the Viability of the Setup for Simultaneously Gathered Microscope Images
- 05:46Conclusion
Y-formet skæring måler brudrelevante længdeskalaer og energier i bløde materialer. Tidligere apparater blev designet til stationære målinger. Denne protokol beskriver fremstillingen og brugen af et apparat, der orienterer opsætningen vandret og giver de fine positioneringsfunktioner, der er nødvendige for in situ-visning , plus fejlkvantificering via et optisk mikroskop.
