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रूपात्मक अवलोकन और बैक्टीरियल सेल क्षति विश्लेषण के लिए एक त्वरित तकनीक के रूप में संपर्क मोड परमाणु बल माइक्रोस्कोपी
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Contact Mode Atomic Force Microscopy as a Rapid Technique for Morphological Observation and Bacterial Cell Damage Analysis
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रूपात्मक अवलोकन और बैक्टीरियल सेल क्षति विश्लेषण के लिए एक त्वरित तकनीक के रूप में संपर्क मोड परमाणु बल माइक्रोस्कोपी

DOI:
10.3791/64823-v

•

05:34 min

•

June 30, 2023

•

, , , ,
1Centro Universitario de los Lagos,Universidad de Guadalajara, 2Centro Nacional de Recursos Genéticos,Instituto Nacional de Investigaciones Forestales, Agrícolas y Pecuarias

Capítulos

  • 00:04Introduction
  • 00:31Bacterial Sample Preparation and AFM Measurements
  • 03:10Results: Atomic Force Contact Microscopic Analysis of Bacterial Cultures Under Nanoparticle Influence
  • 04:46Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

यहां, हम जीवाणु लक्षण वर्णन के लिए एक सरल और तेज़ विधि के रूप में परमाणु बल माइक्रोस्कोपी (एएफएम) के आवेदन को प्रस्तुत करते हैं और बैक्टीरिया के आकार और आकार, बैक्टीरियल कल्चर बायोफिल्म और जीवाणुनाशकों के रूप में नैनोकणों की गतिविधि जैसे विवरणों का विश्लेषण करते हैं।

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Contact Mode Atomic Force MicroscopyMorphological ObservationBacterial Cell Damage AnalysisFixed SampleContact ModeContAI-G ProbesAuto SlopeZ ControllerScan RangeXY PlaneLine By Line LevelingStaphylococcus AureusCocci AggregatesPopulation DistributionCocci Morphology

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