Method Article

Síntesis y Caracterización de alta eje c ZnO Thin Film por Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition System y su Fotodetector Aplicación UV

DOI:

10.3791/53097

October 3rd, 2015

In This Article

Summary

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Ofrecimos un método para sintetizar directamente una película delgada de ZnO de alto eje c (0002) mediante deposición química de vapor mejorada con plasma. La película delgada de ZnO sintetizada combinada con el electrodo interdigitado de Pt se utilizó como capa de detección para el fotodetector ultravioleta, mostrando un alto rendimiento a través de una combinación de su buena capacidad de respuesta y confiabilidad.

Abstract

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En este estudio, óxido de zinc (ZnO) con películas delgadas de alta eje x (0002) orientación preferencial c se han sintetizado con éxito y eficacia sobre sustratos de silicio (Si) a través de diferentes temperaturas sintetizados mediante el uso de plasma mejorado sistema de deposición de vapor químico (PECVD). Los efectos de diferentes temperaturas sintetizados en la estructura cristalina, morfologías de superficie y propiedades ópticas han sido investigados. La difracción de rayos X (XRD) indicó que la intensidad de pico (0002) de difracción se hizo más fuerte al aumentar la temperatura hasta 400 sintetizado o C. La intensidad de difracción de (0002) pico convirtió gradualmente más débil que acompaña con apariencia de (10-10) pico de difracción como la temperatura sintetizado hasta más de 400 ° C El RT de fotoluminiscencia (PL) espectros exhibió una fuerte cercana a la banda de punta (NBE) emisión observa en alrededor de 375 nm y una insignificante nivel de profundidad (DL) de emisión situada en alrededor de 575 nm under alta eje c ZnO películas delgadas. Imágenes Campo microscopía electrónica de barrido de emisión (FE-SEM) revelaron la superficie homogénea y con una pequeña distribución de tamaño de grano. Las películas delgadas de ZnO también se han sintetizado sobre sustratos de vidrio bajo los mismos parámetros para la medición de la transmitancia.

Para los fines de aplicación ultravioleta (UV) fotodetector, el platino interdigitados (Pt) de película delgada (espesor de ~ 100 nm) fabricado a través de proceso de litografía óptica convencional y la frecuencia de radio (RF) de pulverización catódica magnetrón. Con el fin de alcanzar el contacto óhmico, el dispositivo fue recocida en circunstancias de argón a 450 ° C por el sistema de recocido térmico rápido (RTA) durante 10 min. Después de las mediciones sistemáticas, la corriente-voltaje (I - V) de la curva de foto y resultados de respuesta fotocorriente actuales y dependientes del tiempo oscuros exhibió una buena capacidad de respuesta y la fiabilidad, lo que indica que la alta eje c ZnO película delgada es una capa de detección adecuadopara la aplicación fotodetector UV.

Introduction

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ZnO es un material semiconductor funcional de banda ancha-gap prometedor debido a sus propiedades únicas, tales como alta estabilidad química, de bajo coste, no toxicidad, de bajo umbral de potencia para el bombeo óptico, banda prohibida directa de ancho (3,37 eV) a TA y grandes excitón energía de enlace de ~ 60 meV 1-2. Recientemente, ZnO películas delgadas se han empleado en muchos campos de aplicación, incluyendo películas transparentes de óxido conductor (TCO), dispositivo que emite luz azul, transistores de efecto de campo, y los sensores de gas 3.6. Por otro lado, ZnO es un material candidato para reemplazar el óxido de indio y estaño (ITO....

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Protocol

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1. Preparación y limpieza del soporte

  1. Cortar sustratos de silicio 10 mm x 10 mm a partir de Si (100) de la oblea.
  2. Cortar 10 mm x 10 mm sustratos de vidrio.
  3. Use limpiador ultrasónico para limpiar los sustratos de silicio y vidrio con acetona durante 10 min, alcohol durante 10 min, y luego isopropanol durante 15 min.
  4. Enjuague los sustratos con desionizada (DI) tres veces.
  5. Seque los sustratos con una pistola de nitrógeno.

2. Preparación DEZn y Preservación

Nota: dietilcinc (C 2 H 5) 2 Zn, también llamado DEZn, es un compuesto orgánico de....

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Results

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El ZnO (0002) películas delgadas con alta eje c orientación preferida se han sintetizado con éxito sobre los sustratos de Si mediante el sistema de PECVD. El dióxido de carbono (CO 2) y el dietilzinc (DEZn) fueron utilizados como precursores de oxígeno y zinc, respectivamente. La estructura cristalina de las películas delgadas de ZnO se caracterizó por difracción de rayos X (Figura 4), ​​indicando que la película delgada ZnO sintetizó a 400 ° C con el pico (0002) de difrac.......

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Discussion

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Los pasos críticos y modificaciones

En el paso 1, los sustratos deben limpiarse a fondo y los pasos 1.3 a 1.5 seguido para asegurarse de que no hay grasa o contaminaciones orgánicas e inorgánicas en los sustratos. Cualquier grasa o contaminaciones orgánicos e inorgánicos en la superficie del sustrato reducirá significativamente la adherencia de la película.

Paso 2 es el procedimiento más importante antes de que el proceso de preparación de la película de ZnO. DEZ.......

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Disclosures

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Los autores declaran que no tienen intereses financieros contrapuestos.

Acknowledgements

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Este trabajo fue apoyado financieramente de por el Ministerio de Ciencia y Tecnología y el Consejo Nacional de Ciencia de la República de China (nn contrato. NSC 101 a 2.221-E-027-042 y NSC 101-2622-E-027-003-CC2). DH Wei agradece a la Universidad Nacional de Tecnología de Taipei (Taipei TECH) para el Premio Dr. Shechtman Premio.

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Materials

List of materials used in this article
NameCompanyCatalog NumberComments
Fuente de alimentación RFENERGYRFX-600
Válvula de mariposaMKS253B-1-40-1
Controlador de flujo másicoPROTEC INSTRUMENTSPC-540
Controlador de presiónMKSserie 600 
CalefactorUPGRADE INSTRUMENT CO.UI-TC 3001
Pistola de pulverización catódicaAJA INTERNATIONALA320-HA
DEZn 1.5MACROS ORGANIC USA, New Jerseytambién llamado Diethylzinc (C2H5)2Zn
Spin coater SWIENCOPW - 490
I-V mediciónKeithleyModelo: 2400
Medición fotocondujlente de
mascarillaKarl SussMJB4
Empresa HaasS1813
PromotorShipley a Rohm & Empresa HaasMF319
Oblea de silicioE-Light Technology Inc12/0801
Sustrato de vidrioCORNING1737Tipo P / Boro
ADVANCED Fuente luz ultravioleta casera Panasonic ANUJ 6160 Alineador de Photoresist Shipley a Rohm &

References

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  1. Choppali, U., Kougianos, E., Mohanty, S. P., Gorman, B. P. Influence of annealing on polymeric derived ZnO thin films on sapphire. Thin Solid Films. 545, 466-470 (2013).
  2. Bedia, F. Z., et al. Effect of tin doping on optica....

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Zinc Oxide Thin FilmPlasma Enhanced Chemical Vapor DepositionC axis OrientationUltraviolet PhotodetectorInterdigitated Platinum ElectrodeRapid Thermal AnnealingX ray Diffraction AnalysisField Emission Scanning Electron MicroscopyPhotoluminescence SpectroscopyCurrent voltage Characterization

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