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कोशिका आसंजन की चर कोण कुल आंतरिक प्रतिबिंब प्रतिदीप्ति माइक्रोस्कोपी (VA-TIRFM) पर Nanotopology
JoVE Journal
Bioengineering
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JoVE Journal Bioengineering
Nanotopology of Cell Adhesion upon Variable-Angle Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy (VA-TIRFM)
DOI:

09:14 min

October 02, 2012

, , ,

Chapters

  • 00:05Title
  • 01:40Seeding and Incubation of Cells
  • 02:47VA-TIRFM
  • 05:26Data Analysis
  • 06:45Results: Calculation of Cell-substrate Distances in Glioblastoma Cells
  • 08:32Conclusion

Summary

Automatic Translation

एक सब्सट्रेट पर कोशिका आसंजन की टोपोलॉजी चर कोण कुल आंतरिक प्रतिबिंब प्रतिदीप्ति माइक्रोस्कोपी (VA-TIRFM) द्वारा नैनोमीटर परिशुद्धता के साथ मापा जाता है.

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