A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.
Chapters
- 00:05Title
- 02:13Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions
- 03:07Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces
- 04:17Analysis by In Situ TOF-SIMS Before and After Exposure to Reactive Gases
- 05:59Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing
- 07:28Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy
- 09:39Conclusion
सतहों पर बड़े पैमाने पर चयनित आयनों की नरम लैंडिंग उपन्यास सामग्री के अत्यधिक नियंत्रित तैयारी के लिए एक शक्तिशाली तरीका है. सीटू माध्यमिक आयन मास स्पेक्ट्रोमेट्री (एस) और अवरक्त प्रतिबिंब अवशोषण स्पेक्ट्रोस्कोपी (IRRAS) में से विश्लेषण के साथ युग्मित, नरम लैंडिंग सतहों के साथ अच्छी तरह से परिभाषित प्रजातियों की बातचीत में अभूतपूर्व अंतर्दृष्टि प्रदान करता है.
