/

/

वान डेर Waals Heteroepitaxy के आधार पर लचीले Ferroelectric तत् व के लिए एक निर्माण और मापन विधि

JoVE Journal
Engineering
Author Produced

A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.

JoVE Journal Engineering

A Fabrication and Measurement Method for a Flexible Ferroelectric Element Based on Van Der Waals Heteroepitaxy

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

वान डेर Waals Heteroepitaxy के आधार पर लचीले Ferroelectric तत् व के लिए एक निर्माण और मापन विधि

DOI:

10.3791/57221-v

•

10:40 min

•

April 08, 2018

•

Jie Jiang*¹, Yugandhar Bitla*², Qiang-xiang Peng, Yi-Chun Zhou, Ying-Hao Chu

¹Key Laboratory of Low Dimensional Materials and Application Technology of Ministry of Education,Xiangtan University, ²Department of Physics,Indian Institute of Science, ³Department of Materials Science and Engineering,National Chiao Tung University

Chapters

00:00Title
00:41Fabricate the Flexible PZT Thin Film
02:19Ferroelectric Characterization: Bending Test
04:28Ferroelectric Characterization: Thermal Stability
05:19Ferroelectric Characterization: Bending Cyclability Tests
06:23Results: Ferroelectric Properties Under Bent and High Temperature
08:41Conclusion

Summary

Automatic Translation

इस पत्र में, हम सीधे एक epitaxial अभी तक लचीला सीसा zirconium titanate स्मृति तत्व muscovite मीका पर बढ़ने के लिए एक प्रोटोकॉल प्रस्तुत करते हैं ।

Tags

Keywords: Flexible Ferroelectric Element Van Der Waals Heteroepitaxy PZT Thin Film Mica Substrate PLD SRO Bottom Electrode Platinum Top Electrode Ferroelectric Characterization Bending Test

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

एक केंद्रित फोटोवोल्टिक प्रणाली में स्पेक्ट्रम बंटवारे फैलानेवाला तत्व के लिए उच्च कंट्रास्ट gratings के निर्माण

सिलिकॉन आधारित ढांकता हुआ Elastomer Actuators की निर्माण प्रक्रिया

रजत nanowires के साथ उच्च स्केलेबल कंडक्टर के लिए एक निर्माण विधि

ट्रेस विस्फोटक साफ कर लें-नमूने में से संग्रह क्षमता को मापने के लिए मानकीकृत विधि

एक नया समग्र निर्माण विधि के प्रायोगिक कार्यांवयन: नरम परत विधि द्वारा समग्र सतह पर नंगे तंतुओं को उजागर

पार्श्व निपिन Phototransistors के आधार पर लचीली छवि संवेदक का निर्माण

काटने की प्रक्रिया, टेन्सिल परीक्षण, और लचीला यूनिडायरेक्शनल कम्पोजिट लैमिनेट्स की उम्र बढ़ने

सटीक घूर्णी संरेखण के साथ वैन der Waals Heterostructures का निर्माण

Contactless अनुनाद कवी के लिए विधि विकास Dielectric स्पेक्ट्रोस्कोपिक अध्ययन सेल्यूलोसिक कागज के

पराबैंगनी प्रकाश उत्सर्जक डायोड के लिए नैनो-पैटर्न वाले नीलमणि सब्सट्रेट पर एएलएन फिल्म के ग्राफीन-असिस्टेड क्वासी-वैन डेर वाल्स एपिटैक्सी

Read Article