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Chapters
- 00:04Title
- 00:43High-pressure Freezing
- 01:32Freeze Substitution
- 02:39Microwave-assisted Processing
- 04:10Minimal Resin Embedding
- 04:43Preparation for FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope)
- 05:36“
- 06:55Conclusion
यहां हम दो नमूना प्रसंस्करण तकनीकों, उच्च दबाव ठंड और माइक्रोवेव सहायता नमूना प्रसंस्करण, एक केंद्रित आयन बीम स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप (FIB-SEM) के साथ डेटा प्राप्त करने के लिए ंयूनतम राल embedding द्वारा पीछा के संयोजन के लिए एक प्रोटोकॉल मौजूद है । यह एक माउस टिबियल तंत्रिका नमूना और caenorhabditis एलिगेंसका उपयोग कर प्रदर्शित किया जाता है.
