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半導体ベースの次世代シーケンシングプラットフォームにおける異数性のための移植前遺伝子検査
JoVE Journal
Genetics
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JoVE Journal Genetics
Pre-Implantation Genetic Testing for Aneuploidy on a Semiconductor Based Next-Generation Sequencing Platform
DOI:

09:30 min

August 17, 2022

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Chapters

  • 00:04Introduction
  • 00:40Fragment Selection Procedure
  • 02:20Sequencing Template Preparation and Enrichment
  • 05:48Loading the Sample and Sequencing
  • 07:22Results: Whole Genome Amplification Combined with Next-Generation Sequencing for Analysis of Embryo Aneuploidy
  • 08:59Conclusion

Summary

Automatic Translation

このプロトコルは、半導体ベースの次世代シーケンシングプラットフォーム上での異数性に対する移植前遺伝子検査に必要なラボ内の全体的な手順を提示します。ここでは、全ゲノム増幅、DNA断片選択、ライブラリ構築、テンプレート調製、シーケンシング作業フローの詳細なステップを代表的な結果とともに紹介します。

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