A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.
Chapters
- 00:04Introduction
- 00:40Apparatus Mounting
- 01:10Sample Preparation
- 02:20Sample Mounting
- 03:17Blade Mounting and Apparatus Alignment
- 04:15Testing
- 04:49Results: The Force‐Time Curve for Polydimethylsiloxane and the Viability of the Setup for Simultaneously Gathered Microscope Images
- 05:46Conclusion
Y-formet skjæring måler bruddrelevante lengdeskalaer og energier i myke materialer. Tidligere apparater ble designet for stasjonære målinger. Denne protokollen beskriver fabrikasjon og bruk av et apparat som orienterer oppsettet horisontalt og gir de fine posisjoneringsmulighetene som er nødvendige for in situ-visning , pluss feilkvantifisering, via et optisk mikroskop.
