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Ingenieurwesen
Atomic Force Microscopy Probe를 준비하기 위한 원하는 labrum tip의 분리
Published: April 26, 2024
doi:
10.3791/201528
Nicolas Juncos Ljubich
,
Justin Puma
,
Zi Xin Zhang
,
Jianyu Li
,
Changhong Cao
1
Department of Mechanical Engineering
,
McGill University
Tags
Keywords: Labrum Tip
Atomic Force Microscopy
Scalpel
Tweezers
Isolation
Specimen Preparation
Microscopy
check_url/de/201528?article_type=t
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PDF
DOI
Diesen Artikel zitieren
Isolation of the Desired Labrum Tip for Preparing the Atomic Force Microscopy Probe.
J. Vis. Exp.
(Pending Publication), e201528, doi:10.3791/201528 (2024).
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