JoVE
JoVE
Centre de ressources universitaires
Recherche
Sciences du comportement
Biochimie
Biologie
Bio-ingénierie
Recherche en cancérologie
Chimie
Biologie du développement
Ingénierie
Environnement
Génétique
Immunologie et infection
Médecine
Neurosciences
Journal JoVE
Encyclopédie des expériences JoVE
JoVE Chrome Extension
Enseignement
Biologie
Chimie
Clinical
Ingénierie
Sciences de l'environnement
Pharmacology
Physique
Psychologie
Statistiques
JoVE Core
JoVE Science Education
Manuel de laboratoire JoVE
JoVE Quiz
JoVE Business
Videos Mapped to your Course
Auteurs
Bibliothécaires
Lycées
À propos
Sign-In
S'identifier
Contactez-nous
Recherche
Journal JoVE
Encyclopédie des expériences JoVE
Enseignement
JoVE Core
JoVE Science Education
Manuel de laboratoire JoVE
Lycées
FR
EN - English
CN - 中文
DE - Deutsch
ES - Español
KR - 한국어
IT - Italiano
FR - Français
PT - Português
FR
EN - English
CN - 中文
DE - Deutsch
ES - Español
KR - 한국어
IT - Italiano
FR - Français
PT - Português
Close
Recherche
Sciences du comportement
Biochimie
Bio-ingénierie
Biologie
Recherche en cancérologie
Chimie
Biologie du développement
Ingénierie
Environnement
Génétique
Immunologie et infection
Médecine
Neurosciences
Products
Journal JoVE
Encyclopédie des expériences JoVE
Enseignement
Biologie
Chimie
Clinical
Ingénierie
Sciences de l'environnement
Pharmacology
Physique
Psychologie
Statistiques
Products
JoVE Core
JoVE Science Education
Manuel de laboratoire JoVE
JoVE Quiz
JoVE Business
Vidéos associées à vos cours
Teacher Resources
Get in Touch
Instant Trial
Log In
FR
EN - English
CN - 中文
DE - Deutsch
ES - Español
KR - 한국어
IT - Italiano
FR - Français
PT - Português
Journal
/
Ingénierie
/
扫描探针单电子电容谱
Journal JoVE
Ingénierie
Un abonnement à JoVE est nécessaire pour voir ce contenu.
Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.
Journal JoVE
Ingénierie
Scanning-probe Single-electron Capacitance Spectroscopy
Please note that all translations are automatically generated.
Click here for the English version.
扫描探针单电子电容谱
DOI:
10.3791/50676-v
•
10:53 min
•
July 30, 2013
•
Kathleen A. Walsh
,
Megan E. Romanowich
,
Morewell Gasseller
2
,
Irma Kuljanishvili
3
,
Raymond Ashoori
,
Stuart Tessmer
1
Department of Physics and Astronomy
,
Michigan State University
,
2
Department of Chemistry & Biochemistry/Physics
,
Mercyhurst University
,
3
Department of Physics
,
Saint Louis University
,
4
Department of Physics
,
Massachusetts Institute of Technology
Chapitres
00:05
Titre
01:57
Microscope Setup, Preparation, and Mounting of the High Electron Mobility Transistor Circuit
06:37
Capacitance Mode Measurements
08:05
Results: Scanning Charge Accumulation and Capacitance-voltage Spectroscopy of Doped Semiconductors
10:17
Conclusion
Summary
Traduction automatique
English (Original)
العربية (Arabic)
中文 (Chinese)
Nederlands (Dutch)
français (French)
Deutsch (German)
עברית (Hebrew)
italiano (Italian)
日本語 (Japanese)
한국어 (Korean)
português (Portuguese)
русский (Russian)
español (Spanish)
Türkçe (Turkish)
Traduction automatique
扫描探针单电子电容谱有利于在本地化的地下区域的单电子运动的研究。一个敏感的低温扫描探针显微镜研究半导体样品的表面下方的小系统的掺杂原子电荷检测电路纳入。
Tags
Keywords: Scanning-probe
Single-electron
Capacitance Spectroscopy
Electronic Quantum Structure
Subsurface Charge Accumulation (SCA) Imaging
Spatial Resolution
Charge Resolution
HEMT
Cryogenic Temperatures
Article
Embed
AJOUTER À LA PLAYLIST
Usage Statistics
Vidéos Connexes
check_url/fr/50676?article_type=v
在极低的温度下角分辨光电子能谱
check_url/fr/50676?article_type=v
光与连续波光学参量振荡器的量子态工程
check_url/fr/50676?article_type=v
调查单分子粘附的原子力谱
check_url/fr/50676?article_type=v
表面增强拉曼光谱检测生物分子利用EBL装配纳米衬底
check_url/fr/50676?article_type=v
硅金属 - 氧化物 - 半导体量子点单电子泵
check_url/fr/50676?article_type=v
至尊纳米线和其他维系统的共振拉曼光谱
check_url/fr/50676?article_type=v
高分辨率声子辅助准共振荧光光谱仪
check_url/fr/50676?article_type=v
自由形式的光驱动器 - 制作和开动控制在微观尺度
check_url/fr/50676?article_type=v
探测ç<sub> 84</sub> - 嵌入式硅衬底利用扫描探针显微镜和分子动力学
check_url/fr/50676?article_type=v
运用X射线成像光谱水晶的使用为高温等离子体诊断
Read Article