Journal
/
Engineering
/
In Situ Transmission Electron Mikroskopi med biasing og fremstilling af asymmetriske overliggere baseret på blandet faset en-VOx
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
In Situ Transmission Electron Microscopy with Biasing and Fabrication of Asymmetric Crossbars Based on Mixed-Phased a-VOx

In Situ Transmission Electron Mikroskopi med biasing og fremstilling af asymmetriske overliggere baseret på blandet faset en-VOx

DOI:
10.3791/61026-v

•

09:49 min

•

May 13, 2020

•

, ,
1Functional Materials and Microsystems Research Group and the Micro Nano Research Facility,RMIT University, 2RMIT Microscopy and Microanalysis Facility,RMIT University

Chapters

  • 00:04Introduction
  • 00:52Fabrication Process and Electrical Characterization
  • 02:33Biasing Chip Mounting on Gridbar
  • 03:14Lamella Preparation and Biasing Chip Mounting
  • 06:50In Situ Transmission Electron Microscopy (TEM)
  • 07:42Results: Representative In Situ Electrical TEM
  • 09:04Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

Præsenteret her er en protokol til analyse af nanostrukturelle ændringer under in situ biasing med transmission elektronmikroskopi (TEM) for en stablet metal-isolator-metal struktur. Det har betydelige anvendelser i resistive skifte overliggere for den næste generation af programmerbare logik kredsløb og neuromimicking hardware, til at afsløre deres underliggende drift mekanismer og praktisk anvendelighed.

Tags

In-situ Transmission Electron MicroscopyBiasingCrossbar DevicesAmorphous Vanadium OxideNano-structural ChangesMetal-insulator-metal DevicePhotolithographyPhysical Vapor DepositionLift-offBiasing ChipGridbar

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

check_url/61026?article_type=v

Afslørende dynamiske processer af materialer i væsker ved brug Liquid Cell Transmission Electron Microscopy
check_url/61026?article_type=v

In Situ Tidsafhængig Dielektriske Opdeling i Transmission Electron Microscope: En Mulighed for at forstå Manglende Mechanism i mikroelektroniske indretninger
check_url/61026?article_type=v

Udskrivning Fabrikation af Bulk heterojunction solceller og<em> In Situ</em> Morfologi Karakterisering
check_url/61026?article_type=v

Studere dynamiske processer af Nano-størrelse Objekter i Liquid hjælp Scanning Transmission Electron Microscopy
check_url/61026?article_type=v

En metode til at indhente seriel ultratynde sektioner af mikroorganismer i transmissions Elektron Mikroskopi
check_url/61026?article_type=v

Fokuseret Ion Beam fabrikation af LiPON-baseret Solid-state Lithium-ion Nanobatteries til In Situ test
check_url/61026?article_type=v

Fabrikation af fleksible billedsensor baseret på Lateral RAFNS Phototransistors
check_url/61026?article_type=v

Metoder til Ex Situ og In Situ undersøgelser af strukturelle forandringer: sagen om krystallisering af metalliske briller
check_url/61026?article_type=v

Fabrikation af magnetiske nanostrukturer på Silicon Nitride membraner til magnetiske Vortex undersøgelser ved hjælp af Transmission mikroskopi-teknikker
check_url/61026?article_type=v

Encifrede Nanometer Electron-Beam litografi med en Aberration-korrigeret Scanning transmissions elektron mikroskop

Read Article