Journal
/
Engineering
/
Cu Atom Probe Tomografi Çalışmaları (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Tahıl Sınırları
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Cu Atom Probe Tomografi Çalışmaları (In, Ga) Se<sub> 2</sub> Tahıl Sınırları

DOI:
10.3791/50376-v

•

09:51 min

•

April 22, 2013

•

, , , , ,
1Department of Microstructure Physics and Alloy Design,Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, 2Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg ( ZSW )

Chapters

  • 00:05Title
  • 02:29Sample Fabrication for Atom Probe Tomography Analysis
  • 05:43Atom Probe Tomography Analysis in a CAMECA LEAP 3000X HR System
  • 06:31Reconstruction of Atom Probe Tomography Data
  • 07:13Results: Elemental Maps and Concentration Depth Profiles of a Grain Boundary
  • 08:38Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

Bu çalışmada, bir cigs güneş pili en emici tabakanın tane sınırları eğitim için atom-prob tomografi tekniğinin kullanımını tanımlamak. Bilinen bir yapı ile istenilen tane sınırı içeren atomun prob ipuçları hazırlamak için yeni bir tedavi yaklaşımı da burada sunulmuştur.

Tags

Atom Probe TomographyCu(InGa)Se2Grain BoundariesNanoscale CharacterizationSite-specific Sample PreparationFocused-ion-beamElectron Backscatter DiffractionTransmission Electron MicroscopyThin-film Solar Cells

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

check_url/50376?article_type=v

Tarama-prob Tek elektron Kapasite Spektroskopisi
check_url/50376?article_type=v

Ultrasonik Yağlama üzerinde deneyler bir piezoelektrik destekli tribometre ve Optik profilometre kullanma
check_url/50376?article_type=v

Uzak Mikrofon Probe kullanarak Kararsız Yüzey Basınç Ölçümü
check_url/50376?article_type=v

C problama<sub> 84</sub> Taramalı Uç Mikroskobu ve Molecular Dynamics Kullanarak Si Maddesini Gömülü
check_url/50376?article_type=v

Asimetrik Algılama Zaman-Streçi Optik Mikroskopi (ATOM) ile Mikroakışkan Görüntüleme Akış Sitometresi
check_url/50376?article_type=v

Situ Güneş hücreleri ve modüllerin hızlandırılmış performans düşüşü izleme: Cu (In, Ga) Se2 güneş hücreleri için bir örnek çalışma
check_url/50376?article_type=v

Silikon nitrür membranlar üzerinde manyetik nanoyapıları imalatı transmisyon mikroskopisi teknikleri kullanarak manyetik girdap etütler
check_url/50376?article_type=v

Gümüş Nanowire elektrot ve CD tampon katmanı arasında cu (ın, GA) se2 ince-film güneş pilleri arasında sağlam Nanoölçek temas imalatı
check_url/50376?article_type=v

Synchrotron X-Ray Mikro-Tomografi sayarı altında Hatanın Görüntülenmesi ve Taneli Toprakların İlişkili Tane Ölçeğimekanik Davranışı
check_url/50376?article_type=v

İç içe helisel yapıya sahip Yeni Bir Yakıt Tanesi Kullanarak Hibrit Roket Motorunun Yanma Performansını Artırma

Read Article