Scanning-probe Single-electron Capacitance Spectroscopy

00:05Title
01:57Microscope Setup, Preparation, and Mounting of the High Electron Mobility Transistor Circuit
06:37Capacitance Mode Measurements
08:05Results: Scanning Charge Accumulation and Capacitance-voltage Spectroscopy of Doped Semiconductors
10:17Conclusion

Summary

Automatic Translation

ספקטרוסקופיה הקיבול יחידה אלקטרונים סורקות-בדיקה מאפשרת חקר תנועת אלקטרון בודד מתחת לפני הקרקע באזורים מקומיים. מעגל אחראי לזיהוי רגיש הוא שולב מיקרוסקופ סריקת בדיקה קריוגני לחקור מערכות קטנות של אטומים dopant מתחת לפני השטח של דגימות מוליכים למחצה.

ספקטרוסקופיה קיבוליות חד אלקטרונים סורקות-בדיקה

•

•

•

Chapters

Summary

Automatic Translation

Tags

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

Angle-resolved ספקטרוסקופיה Photoemission בטמפרטורות נמוכות במיוחד

הנדסה הקוונטית מדינה של אור עם גל רציף מתנדים אופטיים פרמטרים

חוקר מולקולה בודדת הדבקה על ידי הכוח האטומי ספקטרוסקופיה

משטח משופר ראמאן ספקטרוסקופיה איתור של מולקולות ביולוגיות באמצעות EBL מצעי Nanostructured המפוברק

סיליקון מתכת-תחמוצת-מוליכים למחצה קוונטי נקודות לשאיבת חד אלקטרון

תהודה ראמאן ספקטרוסקופיה של Nanowires אקסטרים מערכות 1D אחרים

ספקטרוסקופיה פלואורסצנטי Quasi-תהודה רזולוציה גבוהה בסיוע Phonon

מתנעים אור בצורה חופשית - ייצור ובקרה של Actuation ב בקנה מידה מיקרוסקופי

גשוש C<sub> 84</sub> -embedded Si המצע באמצעות סריקת בדיקה מיקרוסקופית דינאמיקה מולקולארית

החלת רנטגן הדמיה קריסטל ספקטרוסקופיה לשימוש כמו טמפרטורה גבוהה אבחון פלזמה

Read Article