A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.
Chapters
- 00:05Title
- 01:57Microscope Setup, Preparation, and Mounting of the High Electron Mobility Transistor Circuit
- 06:37Capacitance Mode Measurements
- 08:05Results: Scanning Charge Accumulation and Capacitance-voltage Spectroscopy of Doped Semiconductors
- 10:17Conclusion
Scanning-sond enda elektron kapacitans spektroskopi underlättar studiet av en enda elektron i lokaliserade underjordiska regioner. En känslig laddning-detektionskrets införlivas i en kryogen scanning probe mikroskop för att undersöka små system av dopämne atomer under ytan av halvledare prover.
