Journal
/
Engineering
/
Atom Probe tomografi Studier på Cu (I, Ga) SE<sub> 2</sub> Grain Boundaries
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Atom Probe Tomography Studies on the Cu(In,Ga)Se2 Grain Boundaries

Atom Probe tomografi Studier på Cu (I, Ga) SE<sub> 2</sub> Grain Boundaries

DOI:
10.3791/50376-v

•

09:51 min

•

April 22, 2013

•

, , , , ,
1Department of Microstructure Physics and Alloy Design,Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, 2Zentrum für Sonnenenergie- und Wasserstoff-Forschung Baden-Württemberg ( ZSW )

Chapters

  • 00:05Title
  • 02:29Sample Fabrication for Atom Probe Tomography Analysis
  • 05:43Atom Probe Tomography Analysis in a CAMECA LEAP 3000X HR System
  • 06:31Reconstruction of Atom Probe Tomography Data
  • 07:13Results: Elemental Maps and Concentration Depth Profiles of a Grain Boundary
  • 08:38Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

I dette arbeidet, beskriver vi bruken av atom-sonde tomografi teknikk for å studere korngrensene fra absorberen lag i en CIGS solcelle. En ny tilnærming for å forberede atomet probespisser inneholder ønsket korn grensen med en kjent struktur blir også presentert her.

Tags

Atom Probe TomographyCu(InGa)Se2Grain BoundariesNanoscale CharacterizationSite-specific Sample PreparationFocused-ion-beamElectron Backscatter DiffractionTransmission Electron MicroscopyThin-film Solar Cells

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

check_url/50376?article_type=v

Skanning-probe Single-elektron Kapasitans spektroskopi
check_url/50376?article_type=v

Eksperimenter på Ultralyd Smøring Ved hjelp av en piezoelektrisk assistert Tribometer og optisk profilometer
check_url/50376?article_type=v

Målingen av Ustø overflatetrykk Bruke en ekstern mikrofon Probe
check_url/50376?article_type=v

Verifiserer C<sub> 84</sub> -embedded Si underlaget med Scanning Probe Mikroskopi og Molecular Dynamics
check_url/50376?article_type=v

Mikrofluidisk Imaging Flow Cytometry ved asymmetrisk deteksjon Time-stretch Optical Microscopy (ATOM)
check_url/50376?article_type=v

In Situ Overvåking av akselerert ytelse degradering av solceller og moduler: en Case studie for Cu (i, Ga) Se2 solceller
check_url/50376?article_type=v

Fabrikasjon av magnetiske nanostrukturer på Silicon Nitride membraner for magnetisk Vortex studier med overføring mikroskopi teknikker
check_url/50376?article_type=v

Fabrikasjon av robust nanoskala kontakt mellom en Silver Nanowire elektrode og CD buffer lag i Cu (in, ga) se2 Thin-Film solceller
check_url/50376?article_type=v

Visualisering av svikt og tilhørende Grain-skala mekanisk oppførsel av kornet jord under Shear bruker Synchrotron X-ray Micro-tomografi
check_url/50376?article_type=v

Forbedre forbrenningsytelsen til en hybrid rakettmotor ved hjelp av et nytt drivstoffkorn med en nestet spiralformet struktur

Read Article