/

/

מדידות שלמים המוביל בתחום המוליכים למחצה דרך השיטה קרינת מיקרוגל Photoconductivity

JoVE Journal
Ingegneria

This content is Free Access.

JoVE Journal Ingegneria

Carrier Lifetime Measurements in Semiconductors through the Microwave Photoconductivity Decay Method

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

מדידות שלמים המוביל בתחום המוליכים למחצה דרך השיטה קרינת מיקרוגל Photoconductivity

DOI:

10.3791/59007-v

•

07:38 min

•

April 18, 2019

•

Takato Asada, Yoshihito Ichikawa, Masashi Kato²

¹Department of Electrical & Mechanical Engineering,Nagoya Institute of Technology, ²Frontier Research Institute for Material Science,Nagoya Institute of Technology

Capitoli

00:04Titolo
00:49Preparation of the Sample and Aqueous Solutions
01:44Preparation of the Measuring Equipment
03:36Measurement and Data Processing
05:47Results: Normalized and Calculated μ-PCD Decay Curves for the n-type 4H-SIC Sample in Air and Aqueous Solutions
06:29Conclusion

Summary

Traduzione automatica

בתור אחד של פרמטרים פיזיים חשוב בתחום המוליכים למחצה, נושאת החיים נמדד בזאת באמצעות פרוטוקול כשנוקטים בשיטה קרינת מיקרוגל photoconductivity.

Tags

Carrier Lifetime Semiconductor Microwave Photoconductivity Decay Micro-PCD 4H Silicon Carbide Aqueous Solution Pulsed Laser Photodiode Oscilloscope Microwave Waveguide Schottky Barrier Diode Gun Diode

Article

Embed

AGGIUNGI ALLA PLAYLIST

Usage Statistics

Video correlati

מיקרוגל Photonics מערכות המבוססות על מהודי לחישות-גלריה של מצב

Measurement of Coherence Decay in GaMnAs Using Femtosecond Four-wave Mixing

שימוש במיקרוגל ודוגמאות מקרוסקופית של דיאלקטרי מוצקים לחקר מאפיינים פוטוניים של הפרעות חומרי bandgap פוטוניים

שיטת אמביינט לייצור ionically המגודר פחמן Nanotube הנפוץ קטודה בתאים סולריים האורגנית טנדם

פינת שינוי סלקטיבית של יכולת רטיבות משטח סיליקון על ידי פעמו UV לייזר הקרנה בסביבה נוזלית

כיצד להצית לחץ האטמוספרה מיקרוגל פלזמה לפיד ללא כל igniters נוסף

מדידות התפצלות וזמינות ביולוגיות של הסביבה פלוטוניום שימוש דיפוזיה בThin Films

כימות של ריכוזי מימן שכבות חיצוניות ואת ממשק חומרים בתפזורת באמצעות פרופיל עומק עם ניתוח תגובה גרעיני

אוטומציה של מצב נעילה בתוך לייזר סיב סיבוב קוי קיטוב באמצעות מדידות קיטוב פלט

Dynamics רקומבינציה ב חומרים פוטו סרט דק באמצעות מוליכות מיקרוגל זמן נפתרה

Read Article