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Ottimizzazione della risoluzione e della sensibilità al microscopio a forza magnetica per visualizzare domini magnetici su scala nanometrica
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Optimizing Magnetic Force Microscopy Resolution and Sensitivity to Visualize Nanoscale Magnetic Domains
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Ottimizzazione della risoluzione e della sensibilità al microscopio a forza magnetica per visualizzare domini magnetici su scala nanometrica

DOI:
10.3791/64180-v

•

07:42 min

•

July 20, 2022

•

, , , ,
1Micron School of Materials Science & Engineering,Boise State University, 2Department of Physics and Astronomy,University of Delaware, 3Center for Advanced Energy Studies

Capitoli

  • 00:04Introduction
  • 01:00MFM Probe Preparation and Installation
  • 02:35Sample Preparation, Installation, and Sample Approach
  • 03:27Topography Imaging
  • 04:33MFM Imaging
  • 06:23Results: MFM Imaging of Magnetic Twin Boundaries in a Single Crystal Ni-Mn-Ga Sample
  • 06:58Conclusion

Summary

Traduzione automatica

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La microscopia a forza magnetica (MFM) impiega una sonda di microscopia a forza atomica magnetizzata verticalmente per misurare la topografia del campione e l'intensità del campo magnetico locale con risoluzione su scala nanometrica. L'ottimizzazione della risoluzione spaziale e della sensibilità MFM richiede il bilanciamento dell'altezza di sollevamento decrescente con l'aumento dell'ampiezza dell'azionamento (oscillazione) e trae vantaggio dal funzionamento in un vano portaoggetti in atmosfera inerte.

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Keywords: Magnetic Force MicroscopyMFMNanoscaleMagnetic DomainsSpin-wave ComputingArtificial Spin IcesMagnetization TexturesHigh-resolution MFMAFM ProbeMagnetic CoatingVertically MagnetizedLaser AlignmentPosition-sensitive DetectorSample Holder

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