Journal
/
공학
/
Bepaling van de excitatie en koppeling tussen licht vervuilers en oppervlakte Plasmon Polaritons
JoVE 신문
공학
JoVE 비디오를 활용하시려면 도서관을 통한 기관 구독이 필요합니다.  전체 비디오를 보시려면 로그인하거나 무료 트라이얼을 시작하세요.
JoVE 신문 공학
Determination of the Excitation and Coupling Rates Between Light Emitters and Surface Plasmon Polaritons
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Bepaling van de excitatie en koppeling tussen licht vervuilers en oppervlakte Plasmon Polaritons

DOI:
10.3791/56735-v

•

07:39 min

•

July 21, 2018

•

, ,
1State Key Laboratory of Optoelectronic Materials and Technologies and Guangdong Province Key Laboratory of Display Material and Technology, School of Physics and Engineering,Sun Yat-sen University, 2Department of Physics,The Chinese University of Hong Kong

Chapters

  • 00:04Title
  • 00:27Periodic Array Preparation
  • 02:47Gold Film Deposition and Light Emitter Coating
  • 03:16Reflectivity Measurements for Determining the Surface Plasmon Polariton Decay Rates
  • 04:37Photoluminescence Measurements for Determining the Emission Power Ratio
  • 05:26Results: P-polarized Reflectivity and Photoluminescence Measurements of a Gold Array
  • 06:35Conclusion

Summary

자동 번역

자동 번역

Dit protocol beschrijft de instrumentatie voor de bepaling van de excitatie en koppeling tussen licht vervuilers en Bloch-achtige oppervlakte plasmon polaritons die voortvloeien uit periodieke matrices.

Tags

Keywords: Surface Plasmon PolaritonsFluorescence EnhancementExcitation RateCoupling RatePeriodic ArrayPhotoresistSpin CoatingLloyd’s InterferometerRF SputteringStyryl 8 DyeReflectivity MeasurementGoniometer

Article

Embed

플레이리스트에 추가

Usage Statistics

Related Videos

check_url/kr/56735?article_type=v

Karakterisering van Surface Wijzigingen door Wit Licht Interferometrie: Toepassingen in Ion sputteren, Laser Ablatie en Tribologie Experimenten
check_url/kr/56735?article_type=v

Ontwerp, fabricage en karakterisatie van Plasmonische Fotogeleidende Terahertz emitters
check_url/kr/56735?article_type=v

Real-Time DC-dynamische Biasing Methode voor het omschakelen Tijd Verbetering Ernstig Underdamped Fringing-veld elektrostatische MEMS Aandrijvingen
check_url/kr/56735?article_type=v

Kwantificering van waterstof concentraties in Functionele Lagen en Bulk Materials door middel van diepte- met Nuclear Reaction Analysis
check_url/kr/56735?article_type=v

Emissie spectroscopische Boundary Layer Investigation tijdens Ablatief materiaaltestreactoren in Plasmatron
check_url/kr/56735?article_type=v

Meting van Outgassing tarieven van Steels
check_url/kr/56735?article_type=v

Resonantie fluorescentie van een InGaAs Quantum Dot in een vlakke ruimte met behulp van orthogonale excitatie en detectie
check_url/kr/56735?article_type=v

Synchrotron X-ray Microdiffraction en fluorescentie beeldvorming van minerale en Rock monsters
check_url/kr/56735?article_type=v

Excitatie-Scanning hyperspectrale beeld microscopie om fluorescentie signalen efficiënt te discrimineren
check_url/kr/56735?article_type=v

Nauwkeurige bepaling van de evenwichts spanning waarden met oppervlakte Perturbatie tests

Read Article