Journal
/
공학
/
Karakterisering van SiN Integrated Optical Phased Arrays op een wafer-scale teststation
JoVE 신문
공학
This content is Free Access.
JoVE 신문 공학
Characterization of SiN Integrated Optical Phased Arrays on a Wafer-Scale Test Station
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Karakterisering van SiN Integrated Optical Phased Arrays op een wafer-scale teststation

DOI:
10.3791/60269-v

•

05:57 min

•

April 01, 2020

•

, , , , , ,
1University Grenoble Alpes and CEA, LETI, Minatec Campus

Chapters

  • 00:05Introduction
  • 00:36Optical Coupling: Fiber Alignment
  • 01:25Optical Coupling: Optical Phase Array (OPA) Output Imaging
  • 02:14Beam Optimization and Steering
  • 04:05Beam Divergence Measurement Imaging
  • 04:30Results: Representative Silicon Nitride (SiN) Integrated OPA Characterization
  • 05:20Conclusion

Summary

자동 번역

자동 번역

Hier beschrijven we de werking van een SiN geïntegreerd fotonisch circuit met optische gefaseerde arrays. De circuits worden gebruikt om lage divergentie laserstralen uit te zenden in de buurt infrarood en sturen ze in twee dimensies.

Tags

Keywords: SiN Integrated Optical Phased ArraysWafer-scale CharacterizationAutomated TestingBeam-steering CircuitsProber StationGrating CouplerFar-field ImagingPhase ControlBeam SteeringRing Resonators

Article

Embed

플레이리스트에 추가

Usage Statistics

Related Videos

check_url/kr/60269?article_type=v

Fabricage en karakterisering van wanordelijke polymeer optische vezels voor Transversale Anderson lokalisatie van Licht
check_url/kr/60269?article_type=v

Patroonvorming via Optical Verzadigbare Transitions - fabricage en karakterisering
check_url/kr/60269?article_type=v

Fabricage en exploitatie van een Nano-Optical transportband
check_url/kr/60269?article_type=v

Experimenten op Ultrasoon smeren met behulp van een piëzo-elektrisch ondersteunde Tribometer en optische Profilometer
check_url/kr/60269?article_type=v

Compact Lens-less Digitale Holografische Microscoop voor MEMS Inspectie en karakterisering
check_url/kr/60269?article_type=v

Met behulp van Synchrotron Radiation Microtomografie Multi-scale Driedimensionale Microelectronic pakketten Onderzoek
check_url/kr/60269?article_type=v

Protocol van Elektrochemische Test en karakterisering van Aprotische Li-O<sub> 2</sub> Batterij
check_url/kr/60269?article_type=v

Fabricage van Polymer Microsferen voor Optische Resonator en Laser Applicaties
check_url/kr/60269?article_type=v

Demonstratie van een Hyperlens-geïntegreerd Microscoop en super resolutie beeldvorming
check_url/kr/60269?article_type=v

Atomische laag depositie van Vanadium kooldioxide en een temperatuur-afhankelijke optische Model

Read Article