إعداد الجسيمات النانوية لتحليل TOF-SIMS و XPS

Article DOI: 10.3791/61758-v • 06:24 min • September 13th, 2020

September 13th, 2020 •

Francesca Bennet¹, Anja Müller¹, Jörg Radnik¹, Yves Hachenberger², Harald Jungnickel², Peter Laux², Andreas Luch², Jutta Tentschert²

¹Division of Surface Analysis and Interfacial Chemistry, Federal Institute for Material Research and Testing (BAM), ²Department of Chemical and Product Safety, German Federal Institute for Risk Assessment (BfR)

챕터

요약
Automatic Translation

English (Original)
العربية (Arabic)
中文 (Chinese)
dansk (Danish)
Nederlands (Dutch)
français (French)
Deutsch (German)
עברית (Hebrew)
हिंदी (Hindi)
italiano (Italian)
日本語 (Japanese)
한국어 (Korean)
norsk (Norwegian)
português (Portugese)
русский (Russian)
español (Spanish)
svenska (Swedish)
Türkçe (Turkish)

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

يتم تقديم عدد من الإجراءات المختلفة لإعداد الجسيمات النانوية لتحليل السطح (صب قطرة ، طلاء الدوران ، ترسب من المساحيق ، والتبريد). نناقش التحديات والفرص والتطبيقات الممكنة لكل طريقة ، خاصة فيما يتعلق بالتغيرات في خصائص السطح الناجمة عن أساليب الإعداد المختلفة.

إعداد الجسيمات النانوية لتحليل TOF-SIMS و XPS

챕터

Tags

관련 동영상

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.