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通过冷冻聚焦离子束铣削与扫描电子显微镜和光谱学耦合,对液固界面进行纳米级表征
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Nanoscale Characterization of Liquid-Solid Interfaces by Coupling Cryo-Focused Ion Beam Milling with Scanning Electron Microscopy and Spectroscopy
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Click here for the English version.
通过冷冻聚焦离子束铣削与扫描电子显微镜和光谱学耦合,对液固界面进行纳米级表征
DOI:
10.3791/61955-v
•
11:03 min
•
July 14, 2022
•
Taylor Moon
,
Michael Colletta
,
Lena F. Kourkoutis
2
1
School of Applied and Engineering Physics
,
Cornell University
,
2
Kavli Institute at Cornell for Nanoscale Science
Chapters
00:04
Introduction
00:29
Scanning Electron Microscope (SEM) and Cryogenic Station Preparation
01:31
Sample Vitrification
02:51
Sample Surface Imaging and Feature Location
04:19
Cross-Section Preparation
06:52
Energy Dispersive X-Ray (EDX) Mapping
08:12
Results: Representative Nanoscale Liquid-Solid Interface Characterization
10:24
Conclusion
Summary
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低温聚焦离子束(FIB)和扫描电子显微镜(SEM)技术可以为完整固液界面的化学和形态提供关键见解。详细介绍了制备此类界面的高质量能量色散X射线(EDX)光谱图的方法,重点是储能器件。
Tags
Cryo-SEM
FIB
Liquid-solid Interfaces
Biological Samples
Sample Preparation
Cryogenic Cooling
Vitrification
Scanning Electron Microscopy
Spectroscopy
Nanoscale Characterization
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