Journal
/
공학
/
Nanoskala Karakterisering af væske-faste grænseflader ved kobling af kryofokuseret ionstrålefræsning med scanningselektronmikroskopi og spektroskopi
JoVE 신문
공학
JoVE 비디오를 활용하시려면 도서관을 통한 기관 구독이 필요합니다.  전체 비디오를 보시려면 로그인하거나 무료 트라이얼을 시작하세요.
JoVE 신문 공학
Nanoscale Characterization of Liquid-Solid Interfaces by Coupling Cryo-Focused Ion Beam Milling with Scanning Electron Microscopy and Spectroscopy

Nanoskala Karakterisering af væske-faste grænseflader ved kobling af kryofokuseret ionstrålefræsning med scanningselektronmikroskopi og spektroskopi

DOI:
10.3791/61955-v

•

11:03 min

•

July 14, 2022

•

, ,
1School of Applied and Engineering Physics,Cornell University, 2Kavli Institute at Cornell for Nanoscale Science

Chapters

  • 00:04Introduction
  • 00:29Scanning Electron Microscope (SEM) and Cryogenic Station Preparation
  • 01:31Sample Vitrification
  • 02:51Sample Surface Imaging and Feature Location
  • 04:19Cross-Section Preparation
  • 06:52Energy Dispersive X-Ray (EDX) Mapping
  • 08:12Results: Representative Nanoscale Liquid-Solid Interface Characterization
  • 10:24Conclusion

Summary

자동 번역

자동 번역

Kryogen fokuseret ionstråle (FIB) og scanningselektronmikroskopi (SEM) teknikker kan give vigtig indsigt i kemi og morfologi af intakte fast-flydende grænseflader. Metoder til fremstilling af højkvalitets Energy Dispersive X-ray (EDX) spektroskopiske kort over sådanne grænseflader er detaljerede med fokus på energilagringsenheder.

Tags

Keywords: Cryo-SEMFIBLiquid-solid InterfacesBiological SamplesSample PreparationCryogenic CoolingVitrificationScanning Electron MicroscopySpectroscopyNanoscale Characterization

Article

Embed

플레이리스트에 추가

Usage Statistics

Related Videos

check_url/kr/61955?article_type=v

Scanning-sonde Single-elektron Capacitance spektroskopi
check_url/kr/61955?article_type=v

Artsdannelse og biotilgængelighed Målinger af Environmental Plutonium Brug Diffusion i Thin Films
check_url/kr/61955?article_type=v

Ohmsk Kontakt Fabrication Ved hjælp af en Fokuseret-ion Beam Teknik og elektrisk karakterisering for Layer Semiconductor nanostrukturer
check_url/kr/61955?article_type=v

I Dybde Analyser af lysdioder ved en kombination af X-ray Computed Tomography (CT) og Light Microscopy (LM) korreleret med Scanning Electron Microscopy (SEM)
check_url/kr/61955?article_type=v

Omfattende karakterisering af Extended Fejl i Semiconductor Materials af en Scanning Electron Microscope
check_url/kr/61955?article_type=v

Studere dynamiske processer af Nano-størrelse Objekter i Liquid hjælp Scanning Transmission Electron Microscopy
check_url/kr/61955?article_type=v

Precision Milling af kulstof nanorør skove Brug Low Pressure Scanning Electron Microscopy
check_url/kr/61955?article_type=v

En ny metode til<em> I situ</em> Elektromekanisk karakterisering af nanoskalaeksempler
check_url/kr/61955?article_type=v

Fokuseret Ion Beam fabrikation af LiPON-baseret Solid-state Lithium-ion Nanobatteries til In Situ test
check_url/kr/61955?article_type=v

Encifrede Nanometer Electron-Beam litografi med en Aberration-korrigeret Scanning transmissions elektron mikroskop

Read Article