Journal
/
공학
/
Наноразмерная характеристика интерфейсов жидкость-твердое вещество путем сопряжения криофокусированного ионного пучка фрезерования со сканирующей электронной микроскопией и спектроскопией
JoVE 신문
공학
JoVE 비디오를 활용하시려면 도서관을 통한 기관 구독이 필요합니다.  전체 비디오를 보시려면 로그인하거나 무료 트라이얼을 시작하세요.
JoVE 신문 공학
Nanoscale Characterization of Liquid-Solid Interfaces by Coupling Cryo-Focused Ion Beam Milling with Scanning Electron Microscopy and Spectroscopy
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Наноразмерная характеристика интерфейсов жидкость-твердое вещество путем сопряжения криофокусированного ионного пучка фрезерования со сканирующей электронной микроскопией и спектроскопией

DOI:
10.3791/61955-v

•

11:03 min

•

July 14, 2022

•

, ,
1School of Applied and Engineering Physics,Cornell University, 2Kavli Institute at Cornell for Nanoscale Science

Chapters

  • 00:04Introduction
  • 00:29Scanning Electron Microscope (SEM) and Cryogenic Station Preparation
  • 01:31Sample Vitrification
  • 02:51Sample Surface Imaging and Feature Location
  • 04:19Cross-Section Preparation
  • 06:52Energy Dispersive X-Ray (EDX) Mapping
  • 08:12Results: Representative Nanoscale Liquid-Solid Interface Characterization
  • 10:24Conclusion

Summary

자동 번역

자동 번역

Методы криогенного сфокусированного ионного пучка (FIB) и сканирующей электронной микроскопии (SEM) могут дать ключевую информацию о химии и морфологии неповрежденных твердо-жидких интерфейсов. Методы подготовки высококачественных спектроскопических карт энергодисперсионного рентгеновского излучения (EDX) таких интерфейсов детализированы с акцентом на накопители энергии.

Tags

Keywords: Cryo-SEMFIBLiquid-solid InterfacesBiological SamplesSample PreparationCryogenic CoolingVitrificationScanning Electron MicroscopySpectroscopyNanoscale Characterization

Article

Embed

플레이리스트에 추가

Usage Statistics

Related Videos

check_url/kr/61955?article_type=v

Сканирующего зонда Одноэлектронные емкостной спектроскопии
check_url/kr/61955?article_type=v

Видообразования и биодоступности Измерения окружающей среды плутонием диффузия в тонких пленках
check_url/kr/61955?article_type=v

Токопроводящее Изготовление, используя технику сфокусированного ионного пучка и характеристик для Электрические слоя полупроводниковых наноструктур
check_url/kr/61955?article_type=v

В Depth Анализы светодиодов с помощью комбинации рентгеновской компьютерной томографии (КТ) и световой микроскопии (LM) коррелируют с сканирующей электронной микроскопии (SEM)
check_url/kr/61955?article_type=v

Исчерпывающая характеристика протяженных дефектов в полупроводниковых материалах на растровом электронном микроскопе
check_url/kr/61955?article_type=v

Изучение динамических процессов наноразмерных объектов в жидкости с помощью сканирующего просвечивающего электронного микроскопа
check_url/kr/61955?article_type=v

Точность Фрезерование углеродная нанотрубка лесов Использование низкого давления Сканирование электронной микроскопии
check_url/kr/61955?article_type=v

Новый метод для<em> Разное</em> Электромеханическая характеристика наноразмерных образцов
check_url/kr/61955?article_type=v

Целенаправленные Ион луч изготовление Nanobatteries ЛИПОН основе твердотельных литий ионный на месте тестирования
check_url/kr/61955?article_type=v

Однозначных нанометр электронно лучевая литография с исправления аберраций сканирования просвечивающий электронный микроскоп

Read Article