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Caracterización a nanoescala de interfaces líquido-sólido mediante el acoplamiento de fresado de haz de iones crioenfocado con microscopía electrónica de barrido y espectroscopía
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JoVE 신문 공학
Nanoscale Characterization of Liquid-Solid Interfaces by Coupling Cryo-Focused Ion Beam Milling with Scanning Electron Microscopy and Spectroscopy
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Caracterización a nanoescala de interfaces líquido-sólido mediante el acoplamiento de fresado de haz de iones crioenfocado con microscopía electrónica de barrido y espectroscopía

DOI:
10.3791/61955-v

•

11:03 min

•

July 14, 2022

•

, ,
1School of Applied and Engineering Physics,Cornell University, 2Kavli Institute at Cornell for Nanoscale Science

Chapters

  • 00:04Introduction
  • 00:29Scanning Electron Microscope (SEM) and Cryogenic Station Preparation
  • 01:31Sample Vitrification
  • 02:51Sample Surface Imaging and Feature Location
  • 04:19Cross-Section Preparation
  • 06:52Energy Dispersive X-Ray (EDX) Mapping
  • 08:12Results: Representative Nanoscale Liquid-Solid Interface Characterization
  • 10:24Conclusion

Summary

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Las técnicas de haz de iones enfocados criogénicos (FIB) y microscopía electrónica de barrido (SEM) pueden proporcionar información clave sobre la química y la morfología de las interfaces sólido-líquido intactas. Se detallan los métodos para preparar mapas espectroscópicos de rayos X de dispersión de energía (EDX) de alta calidad de dichas interfaces, con un enfoque en los dispositivos de almacenamiento de energía.

Tags

Cryo-SEMFIBLiquid-solid InterfacesBiological SamplesSample PreparationCryogenic CoolingVitrificationScanning Electron MicroscopySpectroscopyNanoscale Characterization

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