支持浮遊ブロックを用いた透過電子顕微鏡におけるサンプル支持膜の作製

この方法の構造決定ワークフローにおいて、クライオ電子顕微鏡(cryo-EM)のサンプル調製は重要なボトルネックとなっている。ここでは、透過EM試験用サンプルを安定化させる支持膜の作製に使いやすい3次元印刷ブロックを用いた詳細な方法を提供する。