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Microscopia de Força Atômica em Modo de Contato como Técnica Rápida para Observação Morfológica e Análise de Danos Celulares Bacterianos
JoVE 신문
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JoVE 신문 생물학
Contact Mode Atomic Force Microscopy as a Rapid Technique for Morphological Observation and Bacterial Cell Damage Analysis

Microscopia de Força Atômica em Modo de Contato como Técnica Rápida para Observação Morfológica e Análise de Danos Celulares Bacterianos

DOI:
10.3791/64823-v

•

05:34 min

•

June 30, 2023

•

, , , ,
1Centro Universitario de los Lagos,Universidad de Guadalajara, 2Centro Nacional de Recursos Genéticos,Instituto Nacional de Investigaciones Forestales, Agrícolas y Pecuarias

Chapters

  • 00:04Introduction
  • 00:31Bacterial Sample Preparation and AFM Measurements
  • 03:10Results: Atomic Force Contact Microscopic Analysis of Bacterial Cultures Under Nanoparticle Influence
  • 04:46Conclusion

Summary

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Aqui, apresentamos a aplicação da microscopia de força atômica (AFM) como um método simples e rápido para caracterização bacteriana e analisamos detalhes como o tamanho e a forma bacteriana, biofilmes de cultura bacteriana e a atividade de nanopartículas como bactericidas.

Tags

Keywords: Contact Mode Atomic Force MicroscopyMorphological ObservationBacterial Cell Damage AnalysisFixed SampleContact ModeContAI-G ProbesAuto SlopeZ ControllerScan RangeXY PlaneLine By Line LevelingStaphylococcus AureusCocci AggregatesPopulation DistributionCocci Morphology

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