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Microscopie à force atomique en mode contact en tant que technique rapide d’observation morphologique et d’analyse des dommages cellulaires bactériens
JoVE 신문
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JoVE 신문 생물학
Contact Mode Atomic Force Microscopy as a Rapid Technique for Morphological Observation and Bacterial Cell Damage Analysis
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Microscopie à force atomique en mode contact en tant que technique rapide d’observation morphologique et d’analyse des dommages cellulaires bactériens

DOI:
10.3791/64823-v

•

05:34 min

•

June 30, 2023

•

, , , ,
1Centro Universitario de los Lagos,Universidad de Guadalajara, 2Centro Nacional de Recursos Genéticos,Instituto Nacional de Investigaciones Forestales, Agrícolas y Pecuarias

Chapters

  • 00:04Introduction
  • 00:31Bacterial Sample Preparation and AFM Measurements
  • 03:10Results: Atomic Force Contact Microscopic Analysis of Bacterial Cultures Under Nanoparticle Influence
  • 04:46Conclusion

Summary

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Ici, nous présentons l’application de la microscopie à force atomique (AFM) comme une méthode simple et rapide pour la caractérisation bactérienne et analysons des détails tels que la taille et la forme bactériennes, les biofilms de culture bactérienne et l’activité des nanoparticules en tant que bactéricides.

Tags

Contact Mode Atomic Force MicroscopyMorphological ObservationBacterial Cell Damage AnalysisFixed SampleContact ModeContAI-G ProbesAuto SlopeZ ControllerScan RangeXY PlaneLine By Line LevelingStaphylococcus AureusCocci AggregatesPopulation DistributionCocci Morphology

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