我们测量了张力释放部分病变进行附着膜的轴突的光学捕获探针上的的同时力显微镜测量用激光剥离器通过在一个轴突。所开发的实验协议评估轴突的培养基材的粘附性。
一个发展中的神经元网络的功能连接的形成是受外部线索。神经突起生长发育中的神经元受到化学和机械信号的机制,感知和响应机械信号却知之甚少。阐明细胞的成熟过程中的力的作用,使支架的设计,可以促进细胞粘附和细胞骨架耦合到衬底,因此提高损伤后再生的能力,不同的神经元类型。
在这里,我们描述了一种方法,同时力光谱测量应用在激光诱导的细胞病变。测量张力释放部分病变轴突附着膜的轴突的光学捕获探针通过同时干涉跟踪。我们的实验协议检测的张力释放与piconewton灵敏度和动态的张力释放毫秒级的时间分辨率。因此,它提供了一个高分辨率的方法来研究细胞和基片之间的机械耦合,可以调制的药物治疗和/或通过在基板的不同的力学性能。
光学显微镜是一种较少侵入性的成像系统,可观察活细胞。随着开采的辐射压力(如在光学镊子1),或高能量光子通量(在激光剥离器2)的影响,如,这种技术被扩展到纳米操纵。的光学成像系统,可视化和操纵子的细胞的目标3。提供精确的控制。与此同时,得益于精确标定交付的激光功率,光工具完成软或侵入性的样品操作,以前所未有的重现性。
几个实验室的集成,在相同的实验装置,光学镊子和激光剥离器,以消融细胞器4,不同的细胞融合在一起5星 ,或光学驱动的货物6,7刺激细胞。虽然光镊后校准的光刚度,以便的作用力细胞一个piconewton规模的控制,激光剥离系统可以调节光学操纵,单细胞器或亚细胞结构的解剖消融范围从照片蒸发膜。然而,激光剥离校准依赖于光学操纵实体与定性评估的能量传递到样品,主要是基于图像分析说明形态的变化而引起的标本8。在该方法中,我们将演示如何执行力在一个发展中的神经元轴突解剖激光光谱测量,量化,上piconewton规模,产生的力平衡,改变细胞骨架结构的亚细胞室9。培养神经元坚持为基材,并在开发过程中两极化。极化阶段发生在第一天的体外 。在第二阶段的偏振,的EXTRUD之一的神经突起变长,它会分化成为轴突10。轴突生长锥伸长响应牵引力先前已为蓝本由Dennerl的模型11。最近,这种模式被扩展12包括突起粘附到细胞外基质底物的作用。这种生物物理模型,实验观察13后提出,表明拉力沿神经轴突生长锥,传播,调制焦点粘连基板。同样,轴突病变向细胞体中传播产生了一个局部的张力释放。因此,我们建议,测量等发布张力之间的病变沿轴突和胞体的位置,提供阻尼结果不受影响的焦点粘连的可能性进行评估。
我们校准所需的能量的光子通量的激光剥离器来控制的程度,造成了轴突damagE,完全横断局部病变。校准之后,我们重复部分病变几个分化的神经元的轴突和发展的协议的张力解除量化,从而得到一个量化参数估计的轴突到基板14的粘附。
在目前的工作中,我们详细描述了所开发的协议,即代表了精确的实验程序评估和比较与piconewton灵敏度的轴突对基材的附着力,在不同的实验条件下,如化学处理14,或不同类型的细胞培养支持。
我们报告了这项工作的定量方法比较突起文化基板的附着力,同时执行力时的光谱测量激光诱导的细胞病变。测得的张力释放基板的细胞粘附的程度有关:细胞具有较高的粘着斑的数目应释放张力小。测量张力的释放在piconewtons方面提供的物理量评价轴突粘着培养支持在不同的实验条件下14。
几个实验室与光镊系统集成的激光剥离,采用独特的光学设计23。我?…
The authors have nothing to disclose.
阿尔贝托Guiggiani开发实时控制的系统,埃弗利纳Chieregatti和花子对马岛见地的讨论,普鲁佐和亚历山德罗·贾科莫Parodi的定制的电子产品和软件的发展,克劳迪娅Chiabrera和滨海南尼他们在细胞培养制备的专家建议和援助。
REAGENTS | |||
Polymer microspheres, Ø 4 μm, COOH coated | Bangs laboratories | PC05N/6700 | |
PolyLink Protein Coupling Kit | Polyscience | 19539 | |
EQUIPMENT | |||
IR laser | IPG Laser GmbH | YLM-5-SC-LP | ytterbium continuous wave (CW) fiber laser operating at 1064 nm, with linear polarization |
Spatial light modulator | Hamamatsu | LCOS-SLM 10468-07 | |
Blue-tweezers software | Optics group, University of Glasgow | Free downloadable software | http://www.physics.gla.ac.uk/Optics/projects/tweezers/slmcontrol/ |
ImageJ | NIH | Free downloadable software | http://rsbweb.nih.gov/ij/ |
QPD | Thorlabs | S5980 with C5460SPL 6041 board | Four quadrant photo-diode to measure x, y trapped probe displacement |
PD | Teem Photonics | PDA100A-EC | Photodiode to measure z trapped probe displacement |
nano-Pulse UV laser | AA-optoelctronics | PNV-001525-040 | Pulsed UVA laser, pulse length 400 ps |
Acoustic Optic Modulator | Olympus | MQ110-A3-UV, 355 nm fused silica | |
Upright microscope | Andor | BX51 | Equipped with a 60X, 0.9 NA, water dipping objective |
CCD | Warner Instruments | V887ECSUVB EMCCD | |
Peltier device | Physic Instruments | QE1 resistive heating with TC-344B dual channel heater controller | |
Microscope stage: micro+piezo stage | National Instruments | Three linear stages M-126.CG1 carrying a separate 3-axis piezoelectric nano-positioning stage P-733.3DD | |
Daq | NI PCI-6229 | Acquiring the x, y, z position of the trapped probe, and sending feedback loop signals to microscope stage | |
Linux Real Time Application Interface (RTAI) machine | Real time feedback loop system, to control stage position, developed on a dedicated PC desktop |