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In-situ-SIMS und IR-Spektroskopie von gut definierten Oberflächen durch weiche Landung der Messe-Ionen ausgewählt Vorbereitet
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In Situ SIMS and IR Spectroscopy of Well-defined Surfaces Prepared by Soft Landing of Mass-selected Ions
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In-situ-SIMS und IR-Spektroskopie von gut definierten Oberflächen durch weiche Landung der Messe-Ionen ausgewählt Vorbereitet

DOI:
10.3791/51344-v

•

10:22 min

•

June 16, 2014

•

, ,
1Physical Sciences Division,Pacific Northwest National Laboratory

Chapters

  • 00:05Title
  • 02:13Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions
  • 03:07Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces
  • 04:17Analysis by In Situ TOF-SIMS Before and After Exposure to Reactive Gases
  • 05:59Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing
  • 07:28Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy
  • 09:39Conclusion

Summary

Automatic Translation

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Weiche Landung der massenselektierten Ionen auf Oberflächen ist ein leistungsfähiges Konzept für die hoch-gesteuerte Herstellung von neuen Materialien. Mit der Analyse von in-situ-Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) und Infrarot-Reflexions-Absorptions-Spektroskopie (IRRAS) gekoppelt ist, bietet weiche Landung beispiellose Einblicke in die Wechselwirkungen von gut definierten Arten mit Oberflächen.

Tags

Soft LandingMass-selected IonsIn Situ CharacterizationSecondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)Infrared Reflection Absorption Spectroscopy (IRRAS)OrganometallicsSelf-assembled MonolayersRuthenium Tris(bipyridine) DicationsTime-of-flight (TOF)-SIMSFourier Transform Ion Cyclotron Resonance (FT-ICR)-SIMS

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