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Cryo-Microscopia Eletrônica de Preparação de Amostras por meio de um Focused Ion Beam
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Cryo-electron Microscopy Specimen Preparation By Means Of a Focused Ion Beam

Cryo-Microscopia Eletrônica de Preparação de Amostras por meio de um Focused Ion Beam

DOI:
10.3791/51463-v

•

10:54 min

•

July 26, 2014

•

, , ,
1Department of Engineering Sciences,Uppsala University, 2Gatan Inc., 3Department of Microbiology,Swedish University of Agricultural Sciences, 4Physics Department,University of Oslo

Chapters

  • 00:05Title
  • 01:25Sample Freezing
  • 03:21Ion Milling
  • 05:56Cryo Transfer to TEM
  • 08:54Results: Visualization of Aspergillus niger Spores Using Cryo-microscopy
  • 10:20Conclusion

Summary

Automatic Translation

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Cryo Electron Microscópios, ou de varredura (MEV) ou de transmissão (TEM), são amplamente utilizados para a caracterização de amostras biológicas ou outros materiais com alto teor de água 1. A SEM / Focused Ion Beam (FIB) é usado para identificar características de interesse em amostras e extrair, uma lamela elétron-fina e transparente de transferência para um crio-TEM.

Tags

Cryo-electron MicroscopyFocused Ion BeamSpecimen PreparationAspergillus NigerCryo-TEMCryo-SEMLamella ExtractionTEM GridElectron TransparencyCryo-transfer StationNanomanipulatorContamination

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