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Misura di raggi X a fascio coerenza lungo molteplici direzioni Utilizzando 2-D scacchiera reticolo di fase
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Measurement of X-ray Beam Coherence along Multiple Directions Using 2-D Checkerboard Phase Grating
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Misura di raggi X a fascio coerenza lungo molteplici direzioni Utilizzando 2-D scacchiera reticolo di fase

DOI:
10.3791/53025-v

•

10:39 min

•

October 11, 2016

•

, , , ,
1X-ray Science Division, Advanced Photon Source,Argonne National Laboratory, 2Division of Science,Diamond Light Source Ltd.

Chapters

  • 00:05Title
  • 00:41Preparation of the 2-D Checkerboard Phase Grating
  • 04:43Experiment Setup and Alignment at the Synchrotron Facility
  • 06:17Performing Coherence Measurements
  • 08:19Results: Representative Data Measured Using 18 keV X-rays at 1-BM-B Experiment Hutch of Advanced Photon Source
  • 09:59Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

La procedura protocollo di misura e l'analisi dei dati sono dati per ottenere la coerenza trasversale di una sorgente di raggi X radiazione di sincrotrone quattro direzioni contemporaneamente utilizzando una singola fase scacchiera 2-D reticolo. Questa semplice tecnica può essere applicata per la completa coerenza caratterizzazione trasversale di sorgenti di raggi X e ottica a raggi X.

Tags

Keywords: X-ray Beam Coherence2-D Checkerboard Phase GratingSynchrotron BeamlineGrading InterferometryTransverse Coherence2D GradientsElectroplating MoldSilicon WaferSilicon NitrideChromiumGoldPMMA ResistElectron Beam LithographyIsopropyl AlcoholDeveloper

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