Journal
/
Engineering
/
In detail Analyses LEDs door een combinatie van X-ray Computed Tomography (CT) en lichtmicroscopie (LM) gecorreleerd met Scanning Electron Microscopy (SEM)
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
In Depth Analyses of LEDs by a Combination of X-ray Computed Tomography (CT) and Light Microscopy (LM) Correlated with Scanning Electron Microscopy (SEM)
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

In detail Analyses LEDs door een combinatie van X-ray Computed Tomography (CT) en lichtmicroscopie (LM) gecorreleerd met Scanning Electron Microscopy (SEM)

DOI:
10.3791/53870-v

•

10:42 min

•

June 16, 2016

•

, , ,
1Department Lippstadt,Hamm-Lippstadt University of Applied Sciences

Chapters

  • 00:05Title
  • 01:14Performance of Computed Tomography (CT) Scan
  • 03:07Micro Preparation
  • 05:06Light Microscopy (LM) Measurement Setup
  • 06:15Light Microscopy Characterization
  • 07:16Scanning Electron Microscopy (SEM) Analysis
  • 08:32Results: Comprehensive Micro-characterization of an Active Light Emitting Diode
  • 09:49Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

Een workflow voor een uitgebreide micro-karakterisering van actieve optische apparaten wordt geschetst. Bevat structurele en functionele onderzoeken door middel van CT, LM en SEM. De werkwijze is aangetoond voor een witte LED die nog steeds kan worden gebruikt als er karakterisatie.

Tags

X-ray Computed Tomography (CT)Light Microscopy (LM)Scanning Electron Microscopy (SEM)Micro-characterizationFailure AnalysisReverse EngineeringMicroelectronic DevicesOptical PropertiesMicrostructureComposite MaterialsAuto-scan OptimizerDetector ShiftSample PreparationEpoxy ResinSilver Wire

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

Energie-dispersieve X-stralen Tomografie voor 3D Elemental kaart brengen van individuele nanodeeltjes

Failure Analysis Batterijen met synchrotron gebaseerde Hard X-ray Microtomografie

Meting van röntgenbundel coherentie langs meerdere richtingen gebruiken 2-D schaakbord faseraster

Dynamische Pore schaal Reservoir voorwaarde beeldvorming van Reaction in carbonaten met synchrotron Fast Tomography

Het bestuderen van dynamische processen van Nano-sized Objecten in Vloeistof met behulp van Scanning Transmission Electron Microscopy

Precisie Frezen van koolstof nanobuis Bossen Met behulp van Low Pressure Scanning Electron Microscopy

Verbeterde Electron injectie en Exciton opsluiting voor zuivere blauwe Quantum-Dot-lichtdioden door de invoering van gedeeltelijk geoxideerd aluminium Cathode

Synchrotron X-ray Microdiffraction en fluorescentie beeldvorming van minerale en Rock monsters

X-ray Beam geïnduceerde stroommetingen voor multimodale X-Ray microscopie van zonnecellen

Grafeen-Geassisteerde Quasi-van der Waals Epitaxy van AlN Film op Nano-Patroon Sapphire Substraat voor Ultraviolet Light Emitting Diodes

Read Article