Journal
/
/
تطبيق الأشعة السينية التصوير الطيفي كريستال لاستخدامها بوصفها درجة الحرارة عالية البلازما التشخيص
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Applying X-ray Imaging Crystal Spectroscopy for Use as a High Temperature Plasma Diagnostic
DOI:

06:46 min

August 25, 2016

, ,

Chapters

  • 00:05Title
  • 00:53Mounting the High Resolution X-ray Crystal Imaging Spectrometer with Spatial Resolution (HIREXSR) Hardware
  • 04:12Results: Inverted Plasma Temperature and Torodial Velocity Profiles from Argon Helium-like Spectra
  • 05:38Conclusion

Summary

Automatic Translation

توفر أطياف الأشعة السينية ثروة من المعلومات عن البلازما ارتفاع في درجة الحرارة. تقدم هذه المخطوطة تشغيل دقة عالية الطول الموجي التصوير مكانيا مطياف الأشعة السينية المستخدمة لعرض أيونات بالهيدروجين والهليوم مثل العناصر العدد الذري المتوسطة في البلازما توكاماك.

Related Videos

Read Article