Journal
/
Engineering
/
Bepaling van de excitatie en koppeling tussen licht vervuilers en oppervlakte Plasmon Polaritons
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Determination of the Excitation and Coupling Rates Between Light Emitters and Surface Plasmon Polaritons
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Bepaling van de excitatie en koppeling tussen licht vervuilers en oppervlakte Plasmon Polaritons

DOI:
10.3791/56735-v

•

07:39 min

•

July 21, 2018

•

, ,
1State Key Laboratory of Optoelectronic Materials and Technologies and Guangdong Province Key Laboratory of Display Material and Technology, School of Physics and Engineering,Sun Yat-sen University, 2Department of Physics,The Chinese University of Hong Kong

Chapters

  • 00:04Title
  • 00:27Periodic Array Preparation
  • 02:47Gold Film Deposition and Light Emitter Coating
  • 03:16Reflectivity Measurements for Determining the Surface Plasmon Polariton Decay Rates
  • 04:37Photoluminescence Measurements for Determining the Emission Power Ratio
  • 05:26Results: P-polarized Reflectivity and Photoluminescence Measurements of a Gold Array
  • 06:35Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

Dit protocol beschrijft de instrumentatie voor de bepaling van de excitatie en koppeling tussen licht vervuilers en Bloch-achtige oppervlakte plasmon polaritons die voortvloeien uit periodieke matrices.

Tags

Surface Plasmon PolaritonsFluorescence EnhancementExcitation RateCoupling RatePeriodic ArrayPhotoresistSpin CoatingLloyd’s InterferometerRF SputteringStyryl 8 DyeReflectivity MeasurementGoniometer

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

Karakterisering van Surface Wijzigingen door Wit Licht Interferometrie: Toepassingen in Ion sputteren, Laser Ablatie en Tribologie Experimenten

Ontwerp, fabricage en karakterisatie van Plasmonische Fotogeleidende Terahertz emitters

Real-Time DC-dynamische Biasing Methode voor het omschakelen Tijd Verbetering Ernstig Underdamped Fringing-veld elektrostatische MEMS Aandrijvingen

Kwantificering van waterstof concentraties in Functionele Lagen en Bulk Materials door middel van diepte- met Nuclear Reaction Analysis

Emissie spectroscopische Boundary Layer Investigation tijdens Ablatief materiaaltestreactoren in Plasmatron

Meting van Outgassing tarieven van Steels

Synchrotron X-ray Microdiffraction en fluorescentie beeldvorming van minerale en Rock monsters

Excitatie-Scanning hyperspectrale beeld microscopie om fluorescentie signalen efficiënt te discrimineren

Nauwkeurige bepaling van de evenwichts spanning waarden met oppervlakte Perturbatie tests

Bepaling van de geaggregeerde morfologie van het oppervlak bij de Interfaciale overgangs zone (ITZ)

Read Article