Journal
/
Engineering
/
Поверхностное картирование похожих на Землю экзопланет с использованием однотокных кривых света
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Surface Mapping of Earth-like Exoplanets using Single Point Light Curves
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Поверхностное картирование похожих на Землю экзопланет с использованием однотокных кривых света

DOI:
10.3791/60951-v

•

06:48 min

•

May 10, 2020

•

,
1Division of Geological and Planetary Sciences,California Institute of Technology

Chapters

  • 00:05Introduction
  • 00:57Programming Setup and Multi-Wavelength Light Curve Visualization
  • 01:32Light Curve Surface Information Extraction
  • 03:11Planetary Surface Map Construction
  • 04:35Retrieved Map Uncertainty Estimation
  • 05:02Results: Representative Surface Mapping and Analysis
  • 06:11Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

Протокол извлекает информацию из световых кривых экзопланет и строит их поверхностные карты. Он использует световые кривые Земли, которая служит прокси-экзопланетой, чтобы продемонстрировать подход.

Tags

Surface MappingExoplanetsSingle Point Light CurvesEarth-like ExoplanetsHabitabilityTwo-dimensional Surface MapsMulti-wavelength Light CurvesGeometryNormalized Light CurvesSingular Value DecompositionPrincipal ComponentsPower SpectraPeriodogram

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

check_url/60951?article_type=v

Характеристика модификации поверхности белым светом интерферометрии, применения в ионного распыления, лазерной абляции, и трибологии Эксперименты
check_url/60951?article_type=v

Атомно-силовая микроскопия красных фонарей фоторецепторов Использование Mapping PeakForce Количественный Наномеханические недвижимости
check_url/60951?article_type=v

Поверхность Enhanced спектроскопии комбинационного рассеяния света обнаружения биомолекул Использование EBL, изготовленных наноструктурированных Субстраты
check_url/60951?article_type=v

Анализ отказов батарей с использованием синхротронного основе жесткого рентгеновского микротомография
check_url/60951?article_type=v

Измерение рентгеновского луча когерентность вдоль нескольких направлениях с помощью 2-D Клетчатый фазовой дифракционной решетки
check_url/60951?article_type=v

Видимый свет Индуцированные Снижение графеновых оксида Использование наночастиц Плазмонное
check_url/60951?article_type=v

Измерение неустойчивую поверхность давления с помощью выносного микрофона Probe
check_url/60951?article_type=v

С использованием синхротронного излучения микротомография Расследования многомасштабном Трехмерные Микроэлектронные пакеты
check_url/60951?article_type=v

Излучение спектроскопические пограничного слоя Исследование во время АБЛЯЦИОННОГО испытания материалов в плазмотроне
check_url/60951?article_type=v

Экспериментальные методы для захвата ионов с помощью Microfabricated поверхности ловушки иона

Read Article