Journal
/
Engineering
/
Samlokalisering av Kelvin Probe Force Microscopy med andre mikroskopier og spektroskopier: Utvalgte applikasjoner i korrosjonskarakterisering av legeringer
JoVE Journal
Engineering
Author Produced
This content is Free Access.
JoVE Journal Engineering
Co-localizing Kelvin Probe Force Microscopy with Other Microscopies and Spectroscopies: Selected Applications in Corrosion Characterization of Alloys

Samlokalisering av Kelvin Probe Force Microscopy med andre mikroskopier og spektroskopier: Utvalgte applikasjoner i korrosjonskarakterisering av legeringer

DOI:
10.3791/64102-v

•

12:18 min

•

June 27, 2022

•

, , , , ,
1Micron School of Materials Science & Engineering,Boise State University, 2Material, Physical, and Chemical Sciences Center,Sandia National Laboratories, 3Center for Advanced Energy Studies

Chapters

  • 00:05Introduction
  • 01:08Sample Preparation for Co-Localized Imaging of a Metal Alloy
  • 02:11KPFM Imaging
  • 06:51SEM, EDS, and EBSD Imaging
  • 07:41KPFM, SEM, EDS, and EBSD Image Overlay and Analysis
  • 09:37Results I: 3D Printed Ternary Ti Alloy: KPFM and SEM/EBSD
  • 10:41Results II: Cross-Sectional Analysis of Zr Alloys for Nuclear Cladding: KPFM, SEM, and Raman
  • 11:21Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

Kelvin-sondekraftmikroskopi (KPFM) måler overflatetopografi og forskjeller i overflatepotensial, mens skanningelektronmikroskopi (SEM) og tilhørende spektroskopi kan belyse overflatemorfologi, sammensetning, krystallinitet og krystallografisk orientering. Følgelig kan samlokalisering av SEM med KPFM gi innsikt i effekten av nanoskala sammensetning og overflatestruktur på korrosjon.

Tags

Keywords: Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM)Scanning Electron Microscopy (SEM)ColocalizationCorrosion CharacterizationAlloysSurface PotentialSurface TopographyMaterial StructureProperty PerformanceSample PreparationConductive PathAFM Probe

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

check_url/64102?article_type=v

Karakterisering av overflaten modifikasjoner av White Light Interferometry: Søknader i Ion Sputtering, laser ablasjon og Tribologi Eksperimenter
check_url/64102?article_type=v

Forberedelse og Friction Force Mikros Målinger av blandbar, motstridende polymer Børster
check_url/64102?article_type=v

Verifiserer C<sub> 84</sub> -embedded Si underlaget med Scanning Probe Mikroskopi og Molecular Dynamics
check_url/64102?article_type=v

Sub-nanometer Resolution Imaging med Amplitude-modulasjon Atomic Force Microscopy i væske
check_url/64102?article_type=v

Karakterisering av Ultra-finkornet og nanocrystalline materialer Bruke Sende Kikuchi Diffraksjon
check_url/64102?article_type=v

Mikrofluidisk Imaging Flow Cytometry ved asymmetrisk deteksjon Time-stretch Optical Microscopy (ATOM)
check_url/64102?article_type=v

Fremstilling av polymer mikrosfærer for optisk resonator og laser applikasjoner
check_url/64102?article_type=v

Bestemme Tribocorrosion Rate og slitasje-korrosjon synergi av Bulk og tynn Film Aluminiumlegeringer
check_url/64102?article_type=v

In Situ Transmission Electron Mikroskopi med biasing og fabrikasjon av asymmetriske tverrligger basert på blandet faset a-VOx
check_url/64102?article_type=v

Active Probe Atomic Force Microscopy with Quattro-Parallel Cantilever Arrays for High-Throughput Large-Scale Sample Inspection

Read Article