TEM Workflows, Results Analysis, and Data Management Using a Machine-Vision Approach

Summary

Automatic Translation

• English (Original)
• العربية (Arabic)
• 中文 (Chinese)
• dansk (Danish)
• Nederlands (Dutch)
• français (French)
• Deutsch (German)
• עברית (Hebrew)
• हिंदी (Hindi)
• italiano (Italian)
• 日本語 (Japanese)
• 한국어 (Korean)
• norsk (Norwegian)
• português (Portugese)
• русский (Russian)
• español (Spanish)
• svenska (Swedish)
• Türkçe (Turkish)

Här presenterar vi ett protokoll för att använda maskinseende programvara för att stabilisera dynamiska processer under TEM-avbildning, samtidigt som vi indexerar flera strömmar av metadata till varje bild i en navigerbar tidslinje. Vi demonstrerar hur denna plattform möjliggör automatiserad kalibrering och kartläggning av elektrondosen under ett experiment.