JoVE Journal
Engineering
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.
Chapters
Summary
Please note that all translations are automatically generated.
Vi illustrerer anvendelse av en H (15 N, αγ) 12 C resonanskjernereaksjon analyse (NRA) for å kvantitativt vurdere densiteten av hydrogenatomene på overflaten, i volum, og ved et grensesjikt av faste materialer. Nær overflaten hydrogen dyp profilering av en Pd (110) enkelt krystall og av SiO2 / Si (100) som stabler, er beskrevet.