Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / In Situ Oberflächentemperaturmessung in einem…
JoVE Journal
Engineering

A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.

JoVE Journal Engineering
In Situ Oberflächentemperaturmessung in einem Förderbandofen über Inline-Infrarot-Thermographie
Epitaxial Nanostructured α-Quartz Films on Silicon: From the Material to New Devices
Journal (Engineering)
Epitaxial Nanostructured α-Quartz Films on Silicon: From the Material to New Devices
Integrating a Triplet-triplet Annihilation Up-conversion System to Enhance Dye-sensitized Solar Cell Response to Sub-bandgap Light
Journal (Engineering)
Integrating a Triplet-triplet Annihilation Up-conversion System to Enhance Dye-sensitized Solar Cell Response to Sub-bandgap Light
 
Click here for the English version

In Situ Oberflächentemperaturmessung in einem Förderbandofen über Inline-Infrarot-Thermographie

Article DOI: 10.3791/60963-v • 07:03 min • May 30th, 2020
May 30th, 2020 •
1, 1, 2, 3, 1, 1
1Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems ISE, 2InfraTec GmbH, 3Rehm Thermal Systems GmbH

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Dieses Protokoll beschreibt, wie man eine Infrarotkamera in einen Förderbandofen einbaut, eine Kundenkorrektur einer werkskalibrierten IR-Kamera durchführt und die räumliche Oberflächentemperaturverteilung eines Objekts von Interesse auswertet. Die Beispielobjekte sind industrielle Silizium-Solarzellen.

Tags

Retraktion Ausgabe 159 Infrarot-Thermographie Förderbandofen Silizium-Solarzellen räumliche Temperaturverteilung Kontaktableiter Qualitätssicherung
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter