Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / הדמיה כימית מולטיפלקס מבוססת על מיקרוסקופיית…
JoVE Journal
Engineering

This content is Free Access.

JoVE Journal Engineering
הדמיה כימית מולטיפלקס מבוססת על מיקרוסקופיית פיזור ראמאן מגורה בפס רחב
Evaluating the Electrochemical Properties of Supercapacitors using the Three-Electrode System
Journal (Engineering)
Evaluating the Electrochemical Properties of Supercapacitors using the Three-Electrode System
Ohmic Contact Fabrication Using a Focused-ion Beam Technique and Electrical Characterization for Layer Semiconductor Nanostructures
Journal (Engineering)
Ohmic Contact Fabrication Using a Focused-ion Beam Technique and Electrical Characterization for Layer Semiconductor Nanostructures
 
Click here for the English version

הדמיה כימית מולטיפלקס מבוססת על מיקרוסקופיית פיזור ראמאן מגורה בפס רחב

Article DOI: 10.3791/63709-v • 09:57 min • July 25th, 2022
July 25th, 2022 •
1, 1, 1, 1, 1, 1, 2, 1,2, 1,2
1Dipartimento di Fisica, Politecnico di Milano, 2Institute for Photonics and Nanotechnologies (IFN-CNR)

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

אנו מציגים פרוטוקול לרכישת תמונות כימיות עם מיקרוסקופיית פיזור ראמאן (SRS) בפס רחב. בהתבסס על מיקרוסקופ SRS הפועל עם זיהוי דיפרנציאלי רב-ערוצי-נעילה, הפרוטוקול מתאר את הכנת הדגימה, התאמת מנגנון ה-SRS והכימומטריקה כדי לנטרל מרכיבים שונים של דגימות הטרוגניות מבחינה כימית.

Tags

הנדסה גיליון 185 פיזור ראמאן פיזור ראמאן מגורה מיקרוסקופיה לא ליניארית היפרספקטרלי פס רחב הדמיה ויברציונית
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter