/

/

セラドマイト電子源の調製とその明るさの推定

JoVE Journal
Ingenieurwesen

Zum Anzeigen dieser Inhalte ist ein JoVE-Abonnement erforderlich. Melden Sie sich an oder starten Sie Ihre kostenlose Testversion.

JoVE Journal Ingenieurwesen

Preparing a Celadonite Electron Source and Estimating Its Brightness

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

セラドマイト電子源の調製とその明るさの推定

DOI:

10.3791/59513-v

•

09:14 min

•

November 05, 2019

•

Evelyne Salançon, Alain Degiovanni, Laurent Lapena, Roger Morin

¹CINaM-UMR7325,Aix-Marseille University, CNRS

Kapitel

00:05Titel
00:48Preparation of the Source
03:19Kicking-off the Source
04:30Source Characterization
06:44Results: Analyzing the Celadonite Electron Source and Estimating its Brightness
08:06Conclusion

Summary

Automatische Übersetzung

この記事では、セラドマイト源を調製し、長距離イメージング低エネルギー電子点源投影顕微鏡で使用するための明るさを推定するプロトコルを紹介します。

Tags

Celadonite Electron Source Electron Source Preparation Brightness Estimation Projection Microscope Electrostatic Lens Carbon Fiber Celadonite Powder Ultrasonic Dispersion Micro Pipet Capillary Holder

Article

Embed

ZUR WIEDERGABELISTE HINZUFÜGEN

Usage Statistics

Verwandte Videos

デジタルプロジェクターとソフトマテリアル力学の研究への応用を用いたマイクロ3Dプリント

走査プローブ単電子容量分光

中性子スピンエコーを使用して放牧発生率散乱を解決し、有機太陽電池材料を調査する

分子適合体とクラスターの空間的分離

先進ライトソースで難実験：すす生成プロセスに新たな洞察

バイ次元空間での放射線源を見つけるために構築の基本的なポジトロン放出断層撮影システム

迅速なIII-Vヘテロ特徴付けのための電子チャネリングコントラストイメージング

2次元チェッカーボード位相格子を使用して複数の方向に沿ってX線ビームコヒーレンスの測定

マルチスケール三次元マイクロエレクトロニクスパッケージを調査するために放射光マイクロトモグラフィーを用いて、

シリコンリング共振器光子源における量子干渉の測定

Read Article