Journal
/
Ingenieurwesen
/
Bir Celadonit Elektron Kaynağının Hazırlanması ve Parlaklığının Tahmin
JoVE Journal
Ingenieurwesen
Zum Anzeigen dieser Inhalte ist ein JoVE-Abonnement erforderlich.  Melden Sie sich an oder starten Sie Ihre kostenlose Testversion.
JoVE Journal Ingenieurwesen
Preparing a Celadonite Electron Source and Estimating Its Brightness
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Bir Celadonit Elektron Kaynağının Hazırlanması ve Parlaklığının Tahmin

DOI:
10.3791/59513-v

•

09:14 min

•

November 05, 2019

•

, , ,
1CINaM-UMR7325,Aix-Marseille University, CNRS

Kapitel

  • 00:05Titel
  • 00:48Preparation of the Source
  • 03:19Kicking-off the Source
  • 04:30Source Characterization
  • 06:44Results: Analyzing the Celadonite Electron Source and Estimating its Brightness
  • 08:06Conclusion

Summary

Automatische Übersetzung

Automatische Übersetzung

Makale bir celadonit kaynağı hazırlamak ve uzun menzilli görüntüleme düşük enerjili elektron noktası kaynaklı projeksiyon mikroskobu nda kullanılmak üzere parlaklığını tahmin etmek için bir protokol sunuyor.

Tags

Celadonite Electron SourceElectron Source PreparationBrightness EstimationProjection MicroscopeElectrostatic LensCarbon FiberCeladonite PowderUltrasonic DispersionMicro PipetCapillary Holder

Article

Embed

ZUR WIEDERGABELISTE HINZUFÜGEN

Usage Statistics

Verwandte Videos

Yumuşak Malzemelerin Mekaniği Çalışması Dijital Projektör ve Uygulama Kullanarak Mikro 3D Baskı

Tarama-prob Tek elektron Kapasite Spektroskopisi

Nötron Spin Echo'nun Kullanılması, Organik Güneş Hücresi Malzemelerini Araştırmak İçin Otlatma İnsidansını Dağıtmayı Çözdü

Moleküler Konformatörlerin ve Kümelerin Mekansal Ayrımı

İleri Işık Source Alev Deneyler: İs Oluşumu Süreçlerinin içine Yeni Trendleri

A Temel Pozitron Emisyon Tomografi Sistemi Bi-boyutlu bir uzayda bir Radyoaktif kaynağı bulun inşa

Rapid III-V Heteroepitaxial Karakterizasyonu için Elektron Channeling Kontrast Görüntüleme

2-D Dama Faz GRATING kullanarak birden çok Directions boyunca X-ışını Işın Tutarlılık Ölçümü

Çok ölçekli Üç boyutlu Mikroelektronik paketleri Soruşturma Sinkrotron Radyasyon Microtomography kullanma

Silikon Halka Rezonatörü Foton Kaynak Kuantum Girişim ölçümü

Read Article