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समवर्ती मात्रात्मक चालकता और कार्बनिक फोटोवोल्टिक AFM सामग्री का उपयोग के यांत्रिक गुण माप
 
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समवर्ती मात्रात्मक चालकता और कार्बनिक फोटोवोल्टिक AFM सामग्री का उपयोग के यांत्रिक गुण माप

Article DOI: 10.3791/50293-v • 08:59 min • January 23rd, 2013
January 23rd, 2013 •
1, 1,2
1Center for Nanoscale Materials, Argonne National Laboratory, 2Institute for Molecular Engineering, University of Chicago

Chapitres

résumé
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कार्बनिक सामग्री फोटोवोल्टिक (ओपीवी) स्वाभाविक nanometer पैमाने पर inhomogeneous हैं. ओपीवी सामग्री नेनो पैमाने inhomogeneity उपकरणों फोटोवोल्टिक के प्रदर्शन को प्रभावित करता है. इस पत्र में, हम उप-100 एनएम संकल्प के साथ ओपीवी सामग्री की विद्युत और यांत्रिक गुणों के मात्रात्मक मापन के लिए एक प्रोटोकॉल का वर्णन है.

Tags

सामग्री विज्ञान 71 अंक नैनो मैकेनिकल इंजीनियरिंग इलेक्ट्रिकल इंजीनियरिंग कंप्यूटर विज्ञान भौतिकी ठोस में विद्युत परिवहन गुण संघनित पदार्थ भौतिकी पतली फिल्मों (सिद्धांत बयान और विकास) चालकता (ठोस राज्य) AFM परमाणु शक्ति माइक्रोस्कोपी बिजली के गुणों यांत्रिक गुणों जैविक photovoltaics microengineering photovoltaics
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