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Cryo-microscopia elettronica Preparazione del campione per mezzo di un Focused Ion Beam
Journal JoVE
Biologie
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Journal JoVE Biologie
Cryo-electron Microscopy Specimen Preparation By Means Of a Focused Ion Beam
DOI:

10:54 min

July 26, 2014

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Chapitres

  • 00:05Titre
  • 01:25Sample Freezing
  • 03:21Ion Milling
  • 05:56Cryo Transfer to TEM
  • 08:54Results: Visualization of Aspergillus niger Spores Using Cryo-microscopy
  • 10:20Conclusion

Summary

Traduction automatique

Cryo Electron Microscopi, sia a scansione (SEM) o trasmissione (TEM), sono ampiamente utilizzati per la caratterizzazione di campioni biologici o di altri materiali con un elevato contenuto di acqua 1. A SEM / Focused Ion Beam (FIB) viene utilizzato per identificare le caratteristiche di interesse in campioni ed estrarre una lamella sottile elettrone-trasparente per il trasferimento ad un crio-TEM.

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